JP7360646B2 - Measuring device, measuring device control method, and measuring device control program - Google Patents

Measuring device, measuring device control method, and measuring device control program Download PDF

Info

Publication number
JP7360646B2
JP7360646B2 JP2019086766A JP2019086766A JP7360646B2 JP 7360646 B2 JP7360646 B2 JP 7360646B2 JP 2019086766 A JP2019086766 A JP 2019086766A JP 2019086766 A JP2019086766 A JP 2019086766A JP 7360646 B2 JP7360646 B2 JP 7360646B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measuring device
waveform
setting information
sampling
processing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2019086766A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2020183874A (en
Inventor
泰彦 井上
智行 小野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
INFORMETIS CORPORATION
Original Assignee
INFORMETIS CORPORATION
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by INFORMETIS CORPORATION filed Critical INFORMETIS CORPORATION
Priority to JP2019086766A priority Critical patent/JP7360646B2/en
Priority to EP20171383.1A priority patent/EP3730951B1/en
Publication of JP2020183874A publication Critical patent/JP2020183874A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP7360646B2 publication Critical patent/JP7360646B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/08Locating faults in cables, transmission lines, or networks
    • G01R31/081Locating faults in cables, transmission lines, or networks according to type of conductors
    • G01R31/086Locating faults in cables, transmission lines, or networks according to type of conductors in power transmission or distribution networks, i.e. with interconnected conductors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/25Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof using digital measurement techniques
    • G01R19/2513Arrangements for monitoring electric power systems, e.g. power lines or loads; Logging
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R21/00Arrangements for measuring electric power or power factor
    • G01R21/133Arrangements for measuring electric power or power factor by using digital technique
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/08Locating faults in cables, transmission lines, or networks
    • G01R31/088Aspects of digital computing

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Remote Monitoring And Control Of Power-Distribution Networks (AREA)

Description

本発明は、計測装置、計測装置制御方法および計測装置制御プログラムに関する。 The present invention relates to a measuring device, a measuring device control method, and a measuring device control program.

近年、分電盤の主幹に流れる電流を計測して各電気機器に流れる電流を分離推定するための技術が提案されている。分電盤の主幹の計測によって施設中の電力消費を機器ごと把握できることが大きな利点となっている。 In recent years, technology has been proposed for measuring the current flowing through the main power distribution board and separately estimating the current flowing through each electrical device. A major advantage of this system is that it is possible to understand the power consumption of each device in the facility through main measurement at the distribution board.

例えば、特許文献1には、電源から複数の電気機器に供給される電力線の主幹の一箇所を計測点として、計測点における電流および電圧の波形を所定の波形起点でサンプリングした波形データを機器毎の波形データに分離することにより、電気機器の各々の動作状況を推定する信号処理システムが記載されている。波形データの分離は、波形起点を起点とする波形データを正規化し、それぞれの電気機器毎の波形パターンと比較することにより行うことができる。 For example, Patent Document 1 discloses that waveform data obtained by sampling the current and voltage waveforms at a measurement point at a predetermined waveform starting point, with one point of the main power line that is supplied from a power source to a plurality of electrical devices as a measurement point, is collected for each device. A signal processing system is described that estimates the operating status of each electrical device by separating the signal into waveform data. The waveform data can be separated by normalizing the waveform data starting from the waveform starting point and comparing it with the waveform pattern of each electrical device.

一方、電力線に接続される電気機器の増加に伴い、電力線の波形データをサンプリングする計測点を複数箇所にして複数の波形データを演算処理する場合がある。例えば、太陽光等による発電装置や、電気自動車等の電気機器を主幹に接続すると、周波数変換等の電力変換をするパワーコンディショナから発生するノイズが主幹に混入する場合がある。主幹の波形データに混入したノイズをキャンセルするためには、パワーコンディショナの近傍に計測箇所を追加して、主幹の波形データからノイズ発生源近傍の波形データを減算することが有効となる。 On the other hand, as the number of electrical devices connected to power lines increases, there are cases where a plurality of measurement points for sampling waveform data of the power line are used to perform arithmetic processing on a plurality of waveform data. For example, when a power generation device using sunlight or the like or an electric device such as an electric vehicle is connected to the main power supply, noise generated from a power conditioner that performs power conversion such as frequency conversion may mix into the main power supply. In order to cancel noise mixed into the main waveform data, it is effective to add a measurement point near the power conditioner and subtract the waveform data near the noise source from the main waveform data.

また、発電装置で発電された電力を変換するパワーコンディショナやスマートメータ等の電力機器は、電力波形を調整したり計測したりする処理機能を有する。このため、これら処理機能を有する電力機器を、波形データをサンプリングする計測装置として使用することにより、波形データの計測点を複数箇所にできる場合がある。 Furthermore, power equipment such as power conditioners and smart meters that convert power generated by power generators have processing functions that adjust and measure power waveforms. Therefore, by using a power device having these processing functions as a measuring device that samples waveform data, it is possible to measure waveform data at a plurality of points in some cases.

ここで、電力線の複数箇所の計測点において計測された波形データ同士を演算する場合、波形データをサンプリングするサンプリングタイミングを複数の計測装置の間で同期させ、演算の時間軸の基準となる波形起点を同期させる必要がある。 When calculating the waveform data measured at multiple measurement points on the power line, the sampling timing for sampling the waveform data is synchronized between the multiple measurement devices, and the waveform starting point is used as the reference for the time axis of the calculation. need to be synchronized.

サンプリングタイミングを同期させるために、例えば、複数の計測装置間において通信速度の速い有線の通信線を設け、通信遅延の少ない通信コマンドにおいて計測装置の動作を制御する。 In order to synchronize the sampling timing, for example, a wired communication line with a high communication speed is provided between a plurality of measuring devices, and the operation of the measuring devices is controlled using communication commands with little communication delay.

また、サンプリングタイミングを同期させるために、それぞれの計測装置に精密な内部時計を設け、サンプリング動作を内部時計に同期するようにしてもよい。 Further, in order to synchronize the sampling timing, each measuring device may be provided with a precise internal clock, and the sampling operation may be synchronized with the internal clock.

特許第6219401号公報Patent No. 6219401

しかし、複数の計測装置が距離的に離れた場所に設置されたり、建屋の内側と外側等のように隔離された場所に設置されたりすると、有線の通信線を設置することが困難となる場合があった。また、無線通信においては、通信状況による通信の遅延や通信負荷による処理の遅延が発生して、サンプリングタイミングを同期させることが困難な場合があった。 However, if multiple measurement devices are installed far apart or in isolated locations such as inside and outside a building, it may be difficult to install wired communication lines. was there. Furthermore, in wireless communication, there are cases in which it is difficult to synchronize sampling timings due to communication delays due to communication conditions and processing delays due to communication loads.

また、精密な内部時計は高価であるため、それぞれの計測装置に設けると装置コストが上昇してしまう場合があった。 Furthermore, since a precise internal clock is expensive, providing it in each measuring device may increase the cost of the device.

また、複数の計測装置の間でサンプリングタイミングを一度同期させても、各計測装置の再起動等の要因で同期外れが発生することがあり、ロバスト性が低下する場合があった。 Further, even if sampling timings are once synchronized between a plurality of measuring devices, synchronization may occur due to factors such as restarting each measuring device, and robustness may deteriorate.

本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、電力線の波形データをサンプリングする複数の計測点におけるサンプリングのタイミングを容易に同期させることができ、ロバスト性を向上させることができる、計測装置、計測装置制御方法および計測装置制御プログラムを提供することを一つの目的とする。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and provides a measuring device that can easily synchronize the timing of sampling at a plurality of measurement points that sample waveform data of a power line and improve robustness. One object of the present invention is to provide a measuring device control method and a measuring device control program.

(1)上記の課題を解決するため、実施形態の計測装置は、電力線の計測点における電圧または電流の少なくとも何れか1つの波形を所定のサンプリングタイミングでサンプリングするサンプリング部と、サンプリング部においてサンプリングされた波形の処理を実行する処理部と、動作を定める設定情報を取得する設定情報取得部と、設定情報取得部において取得された設定情報を保持する設定保持部と、設定保持部に保持された設定情報に基づき、動作を制御する動作制御部とを備える。 (1) In order to solve the above problem, the measuring device of the embodiment includes a sampling section that samples at least one waveform of voltage or current at a measurement point of a power line at a predetermined sampling timing, and a sampling section that samples at least one waveform of voltage or current at a measurement point of a power line. a processing unit that executes processing of the waveforms that have been acquired; a setting information acquisition unit that acquires setting information that determines the operation; a settings holding unit that holds the setting information acquired in the setting information acquisition unit; and an operation control unit that controls the operation based on the setting information.

(2)また、実施形態の計測装置において、動作制御部は、基準的な時刻を提供する時刻提供装置に対して内部時計に設定する時刻の問い合わせを実行し、設定情報取得部は、時刻の問い合わせが実行された後に設定情報を取得するものであってもよい。 (2) In the measuring device of the embodiment, the operation control unit inquires of the time providing device that provides the standard time about the time to be set in the internal clock, and the setting information acquisition unit The setting information may be acquired after the inquiry is executed.

(3)また、実施形態の計測装置において、設定情報取得部は、ネットワークを介して通信可能に接続された設定情報管理装置から設定情報を取得するものであってもよい。 (3) Furthermore, in the measuring device of the embodiment, the setting information acquisition unit may acquire setting information from a setting information management device communicably connected via a network.

(4)また、実施形態の計測装置において、サンプリング部は、波形の正負が反転するゼロクロス点を基準としたサンプリングタイミングで波形をサンプリングするものであってもよい。 (4) Furthermore, in the measuring device of the embodiment, the sampling unit may sample the waveform at a sampling timing based on a zero-crossing point at which the sign of the waveform is reversed.

(5)また、実施形態の計測装置において、動作制御部は、サンプリングタイミングを同期させる同期信号に係る設定が設定情報おいてされている場合、他の電力線の計測点における波形をサンプリングする他の計測装置との、同期信号の通信を制御するものであってもよい。 (5) In the measurement device of the embodiment, if settings related to a synchronization signal for synchronizing the sampling timing are set in the setting information, the operation control unit may be configured to perform other operations for sampling waveforms at measurement points of other power lines. It may also be used to control communication of synchronization signals with the measuring device.

(6)また、実施形態の計測装置において、動作制御部は、他の計測装置の内部時計の値と、サンプリングする波形の正負が反転するゼロクロス点をカウントする波数カウンタの値とを含む同期信号の通信を制御するものであってもよい。 (6) In the measuring device of the embodiment, the operation control unit also generates a synchronization signal that includes the value of an internal clock of another measuring device and the value of a wave number counter that counts zero-crossing points at which the polarity of the waveform to be sampled is reversed. It may also be used to control communications.

(7)また、実施形態の計測装置において、動作制御部は、設定情報において同期信号を提供する設定がされている場合、処理の処理タイミングに基づき他の計測装置に対して同期信号を提供するものであってもよい。 (7) In the measurement device of the embodiment, if the setting information is set to provide a synchronization signal, the operation control unit provides the synchronization signal to other measurement devices based on the processing timing of the process. It may be something.

(8)また、実施形態の計測装置において、動作制御部は、複数の他の計測装置に対して同時に同期信号を提供するものであってもよい。 (8) Furthermore, in the measuring device of the embodiment, the operation control section may simultaneously provide a synchronization signal to a plurality of other measuring devices.

(9)また、実施形態の計測装置において、動作制御部は、設定情報において同期信号を取得する設定がされている場合、他の計測装置から同期信号を取得し、取得した同期信号に基づき、処理の処理タイミングを調整するものであってもよい。 (9) In the measurement device of the embodiment, if the setting information is set to acquire a synchronization signal, the operation control unit acquires a synchronization signal from another measurement device, and based on the acquired synchronization signal, The processing timing may be adjusted.

(10)また、実施形態の計測装置において、動作制御部は、波形の正負が反転するゼロクロス点を基準として処理タイミングを調整するものであってもよい。 (10) Furthermore, in the measuring device of the embodiment, the operation control section may adjust the processing timing based on a zero-crossing point at which the sign of the waveform is reversed.

(11)また、実施形態の計測装置において、動作制御部は、サンプリングする波形の位相の設定が設定情報おいてされている場合、設定情報に基づきサンプリング部でサンプリングする波形の位相を設定するものであってもよい。 (11) Furthermore, in the measuring device of the embodiment, if the phase of the waveform to be sampled is set in the setting information, the operation control unit sets the phase of the waveform to be sampled by the sampling unit based on the setting information. It may be.

(12)上記の課題を解決するため、実施形態の計測装置制御方法は、計測装置を制御するための計測装置制御方法であって、電力線の計測点における電圧または電流の少なくとも何れか1つの波形を所定のサンプリングタイミングでサンプリングするサンプリングステップと、サンプリングステップにおいてサンプリングされた波形の処理を実行する処理ステップと、動作を定める設定情報を取得する設定情報取得ステップと、設定情報取得ステップにおいて取得された設定情報を保持する設定保持ステップと、設定保持ステップに保持された設定情報に基づき、動作を制御する動作制御ステップと、を含む。 (12) In order to solve the above problems, a measuring device control method according to an embodiment is a measuring device controlling method for controlling a measuring device, in which at least one waveform of voltage or current at a measuring point of a power line is a sampling step of sampling at a predetermined sampling timing, a processing step of processing the waveform sampled in the sampling step, a setting information acquisition step of acquiring setting information that determines the operation, and a setting information acquisition step of acquiring the setting information that determines the operation. The method includes a setting holding step for holding setting information, and an operation control step for controlling operations based on the setting information held in the setting holding step.

(13)上記の課題を解決するため、実施形態の計測装置制御プログラムは、計測装置に、電力線の計測点における電圧または電流の少なくとも何れか1つの波形を所定のサンプリングタイミングでサンプリングするサンプリング機能と、サンプリング機能においてサンプリングされた波形の処理を実行する処理機能と、動作を定める設定情報を取得する設定情報取得機能と、設定情報取得機能において取得された設定情報を保持する設定保持機能と、設定保持機能に保持された設定情報に基づき、動作を制御する動作制御機能とを実現させる。 (13) In order to solve the above problem, the measurement device control program of the embodiment provides the measurement device with a sampling function that samples at least one waveform of voltage or current at a measurement point of a power line at a predetermined sampling timing. , a processing function that executes processing of the sampled waveform in the sampling function, a setting information acquisition function that acquires setting information that determines the operation, a setting holding function that holds the setting information acquired in the setting information acquisition function, and a setting An operation control function that controls the operation based on the setting information held in the holding function is realized.

本発明の一つの実施形態によれば、計測装置は、電力線の計測点における電圧または電流の少なくとも何れか1つの波形を所定のサンプリングタイミングでサンプリングし、サンプリングされた波形の処理を実行し、動作を定める設定情報を取得し、取得された設定情報を保持し、保持された設定情報に基づき、動作を制御することにより、電力線の波形データをサンプリングする複数の計測点におけるサンプリングのタイミングを容易に同期させることができ、ロバスト性を向上させることができる。 According to one embodiment of the present invention, the measuring device samples at least one waveform of voltage or current at a measurement point of a power line at a predetermined sampling timing, processes the sampled waveform, and operates. By acquiring setting information that defines the power line, retaining the acquired setting information, and controlling the operation based on the retained setting information, it is possible to easily adjust the timing of sampling at multiple measurement points for sampling power line waveform data. can be synchronized to improve robustness.

実施形態における計測装置を含む計測システム構成の一例を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing an example of a measurement system configuration including a measurement device in an embodiment. 実施形態における計測装置を含む計測システムのソフトウェア構成の一例を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram illustrating an example of a software configuration of a measurement system including a measurement device in an embodiment. 実施形態における、(A)親機の処理タイミング、(B)子機の処理タイミングの調整の一例を示す図である。FIG. 6 is a diagram illustrating an example of adjustment of (A) processing timing of a master device and (B) processing timing of a slave device in the embodiment. 実施形態における、(A)親機の処理タイミング、(B)子機の処理タイミングの調整の一例を示す図である。FIG. 6 is a diagram illustrating an example of adjustment of (A) processing timing of a master device and (B) processing timing of a slave device in the embodiment. 実施形態における計測装置の処理タイミングの調整の一例を示す図である。It is a figure showing an example of adjustment of processing timing of a measurement device in an embodiment. 実施形態における計測装置を含む計測システムの動作の一例を示すシーケンス図である。It is a sequence diagram showing an example of operation of a measurement system including a measurement device in an embodiment. 実施形態における計測装置のハードウェア構成の一例を示すブロック図である。It is a block diagram showing an example of the hardware configuration of the measuring device in an embodiment. 実施形態における設定情報管理装置の動作の一例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows an example of operation of a setting information management device in an embodiment. 実施形態における計測装置の動作の一例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows an example of operation of a measuring device in an embodiment. 実施形態における計測装置の動作の一例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows an example of operation of a measuring device in an embodiment. 実施形態における計測装置の動作の一例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows an example of operation of a measuring device in an embodiment. 実施形態における計測装置の動作の一例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows an example of operation of a measuring device in an embodiment. 実施形態における計測装置の処理タイミングの調整の一例を示す図である。It is a figure showing an example of adjustment of processing timing of a measurement device in an embodiment.

以下、図面を参照して本発明の一実施形態における、計測装置、計測装置制御方法および計測装置制御プログラムについて詳細に説明する。 EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, a measuring device, a measuring device control method, and a measuring device control program in one embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

先ず、図1を用いて、システム構成を説明する。図1は、実施形態における計測装置を含む計測システム構成の一例を示すブロック図である。 First, the system configuration will be explained using FIG. 1. FIG. 1 is a block diagram illustrating an example of a measurement system configuration including a measurement device according to an embodiment.

図1において、計測システム10は、計測装置1(計測装置1a~1d)を含んでいる。計測装置1a~1dはそれぞれ測定対象である電力線の電圧または電流を測定するように設置されている。 In FIG. 1, a measurement system 10 includes a measurement device 1 (measurement devices 1a to 1d). The measuring devices 1a to 1d are each installed to measure the voltage or current of a power line as a measurement target.

計測装置1aは、電源側が電力会社の電力線(電源)に接続されているスマートメータ41の負荷側から分電盤42の電源側に接続される電力線である主幹40における分電盤42の電源側に接続される。計測装置1aの筐体は、分電盤42の内部または近傍に設置される。計測装置1aは、主幹40における分電盤42の電源側を計測点とする電圧または電流の少なくともいずれか1つの波形を計測する。なお、計測装置1の詳細は後述する。 The measuring device 1a is connected to the power supply side of the distribution board 42 in the main trunk 40, which is a power line connected from the load side of the smart meter 41 whose power supply side is connected to the power line (power supply) of the electric power company to the power supply side of the distribution board 42. connected to. The housing of the measuring device 1a is installed inside or near the distribution board 42. The measuring device 1a measures at least one waveform of voltage or current with a measurement point on the power supply side of the distribution board 42 in the main trunk 40. Note that the details of the measuring device 1 will be described later.

計測装置1bは、スマートメータ41の内部または近傍に設置され、スマートメータ41の負荷側を計測点とする電圧または電流の少なくともいずれか1つの波形を計測する。スマートメータ41は、負荷側に供給される電力をデジタルで計測して、メーター内に通信機能を持たせた電力量計である。スマートメータ41は、計測した電力の使用状況のデジタルデータを、通信機能を用いてによって電力会社の管理サーバ(不図示)に所定の時間間隔で送信することができる。なお、計測装置1bは、スマートメータ41の負荷側の電圧または電流を計測するものであるため、スマートメータ41における電圧および電流を計測する機能を利用したものであってもよい。例えば、計測装置1bは、スマートメータ41のソフトウェアによって実現される機能として実施されてもよい。 The measuring device 1b is installed inside or near the smart meter 41, and measures at least one waveform of voltage or current with the load side of the smart meter 41 as a measurement point. The smart meter 41 is a power meter that digitally measures the power supplied to the load side and has a communication function within the meter. The smart meter 41 can transmit digital data of measured power usage status to a management server (not shown) of an electric power company at predetermined time intervals using a communication function. Note that since the measuring device 1b measures the voltage or current on the load side of the smart meter 41, it may be one that utilizes the function of measuring the voltage and current in the smart meter 41. For example, the measuring device 1b may be implemented as a function realized by software of the smart meter 41.

分電盤42は、電源側が主幹40に接続され、負荷側が複数の配線に接続され、電源側の電力を各配線に対して分配する。分電盤42は、図示しない漏電を遮断するための漏電遮断器、主幹の電流を遮断するための主幹遮断機、および各配線の電流を遮断するための配線用遮断器を含むことができる。負荷側の各配線は、配線毎に設置された配線用遮断器の負荷側に接続される。負荷側の配線には、冷蔵庫31、テレビ32、および電気ポット33として例示するの様々な電気機器が接続される。なお、分電盤42は、スマートメータ41の機能、または降圧トランスの機能を有する装置(例えば、キュービクル式高圧受電設備)であってもよい。 The distribution board 42 has a power supply side connected to the main trunk 40, a load side connected to a plurality of wirings, and distributes power from the power supply side to each wiring. The distribution board 42 can include an earth leakage breaker (not shown) for interrupting earth leakage, a main circuit breaker for interrupting main current, and a molded case circuit breaker for interrupting current in each wiring. Each wire on the load side is connected to the load side of a molded circuit breaker installed for each wire. Various electrical devices such as a refrigerator 31, a television 32, and an electric kettle 33 are connected to the load-side wiring. Note that the distribution board 42 may be a device having the function of the smart meter 41 or the function of a step-down transformer (for example, a cubicle-type high-voltage power receiving facility).

分電盤42の負荷側の配線には、計測装置1cを介してパワーコンディショナ43、さらに太陽光発電器34が接続されている。また、主幹40から図示しない配線用遮断機の負荷側の配線には、計測装置1dを介して電気自動車35が接続されている。図1における、計測装置1bと計測装置1dは、計測点が計測装置1aの電源側に設け得ることを例示している。また、計測装置1cは、計測点が計測装置1aの電源側に設け得ることを例示している。 A power conditioner 43 and a solar power generator 34 are connected to the wiring on the load side of the distribution board 42 via a measuring device 1c. Further, an electric vehicle 35 is connected to the wiring on the load side of a circuit breaker (not shown) from the main trunk 40 via a measuring device 1d. In FIG. 1, the measuring device 1b and the measuring device 1d illustrate that the measuring point can be provided on the power supply side of the measuring device 1a. Moreover, the measuring device 1c illustrates that the measuring point can be provided on the power supply side of the measuring device 1a.

計測装置1cは、パワーコンディショナ43の近傍の電力線に接続され、パワーコンディショナ43近傍の配線を計測点とする電圧または電流の少なくともいずれか1つの波形を計測する。また、計測装置1dは、電気自動車35へ接続される配線に設置され、電気自動車に接続される配線を計測点とする電圧または電流の少なくともいずれか1つの波形を計測する。 The measuring device 1c is connected to a power line near the power conditioner 43, and measures at least one waveform of voltage or current using the wiring near the power conditioner 43 as a measurement point. Further, the measuring device 1d is installed on the wiring connected to the electric vehicle 35, and measures at least one waveform of voltage or current with the wiring connected to the electric vehicle as a measurement point.

パワーコンディショナ43は、太陽光発電器34で発電された電力を直流から商用周波数(50Hzまたは60Hz)および商用電圧(単相200Vまたは三相200V)の交流に変換するインバータである。パワーコンディショナ43は、太陽光発電器34で発電された電力を分電盤42に供給することにより、他の配線に対して電力を供給することが可能となる。なお、パワーコンディショナ43は、電力会社の電力線に電力を供給するようにしてもよい。 The power conditioner 43 is an inverter that converts the electric power generated by the solar power generator 34 from direct current to alternating current of commercial frequency (50 Hz or 60 Hz) and commercial voltage (single-phase 200 V or three-phase 200 V). By supplying power generated by the solar power generator 34 to the distribution board 42, the power conditioner 43 can supply power to other wiring. Note that the power conditioner 43 may supply power to a power line of a power company.

パワーコンディショナ43は、インバータにより周波数変換をするときにスイッチングノイズを発生させる場合がある。発生したスイッチングノイズは、電力線のインピーダンスに応じて減衰しながら電力線を伝播していく。計測装置1cは、パワーコンディショナ43近傍の電力線を計測点とするため、パワーコンディショナ43で発生したスイッチングノイズを強く含む波形を計測することが可能となる。 The power conditioner 43 may generate switching noise when frequency conversion is performed using an inverter. The generated switching noise propagates through the power line while being attenuated according to the impedance of the power line. Since the measurement device 1c uses the power line near the power conditioner 43 as a measurement point, it is possible to measure a waveform that strongly includes switching noise generated in the power conditioner 43.

また、電気自動車35は、主幹40から供給された交流の電力を内部で直流に変換する、図示しない車載インバータを有している。車載インバータに変換された直流の電力は図示しない車載バッテリに充電される。一方、車載インバータは車載バッテリに充電された直流の電力を交流に変換して分電盤42に供給することができる。車載インバータは、パワーコンディショナ43と同様に周波数変換をするときにスイッチングノイズを発生させる場合がある。計測装置1dは、電気自動車35への配線を計測点とするため、電気自動車35で発生したノイズを強く含む波形を計測することが可能となる。 Further, the electric vehicle 35 includes an on-vehicle inverter (not shown) that internally converts AC power supplied from the main trunk 40 into DC power. The DC power converted by the on-vehicle inverter is charged into an on-vehicle battery (not shown). On the other hand, the on-vehicle inverter can convert the DC power charged in the on-vehicle battery into AC power and supply it to the distribution board 42 . Like the power conditioner 43, the on-vehicle inverter may generate switching noise when converting the frequency. Since the measurement device 1d uses the wiring to the electric vehicle 35 as a measurement point, it is possible to measure a waveform that strongly contains noise generated by the electric vehicle 35.

なお、図1における計測システム10は、4台の計測装置1(計測装置1a~1d)が設置される場合を例示したが、計測システム10における計測装置1の設置台数はこれに限定されるものではない。例えば、計測装置1は、故障時のバックアップとして複数台が設置されるものであってもよい。 In addition, although the measurement system 10 in FIG. 1 illustrates a case where four measurement devices 1 (measurement devices 1a to 1d) are installed, the number of measurement devices 1 installed in the measurement system 10 is limited to this. isn't it. For example, a plurality of measuring devices 1 may be installed as backup in case of failure.

また、図1は、計測装置1aが分電盤42の内部または近傍の設置される場合を示したが、計測装置1aの設置場所はこれに限定されるものではない。例えば、計測装置1aは、スマートメータ41の内部または近傍に設置されるものであってもよい。 Moreover, although FIG. 1 showed the case where the measuring device 1a is installed inside or near the electricity distribution board 42, the installation location of the measuring device 1a is not limited to this. For example, the measuring device 1a may be installed inside or near the smart meter 41.

次に、図2を用いて、計測装置1の機能を説明する。図2は、計測装置1のソフトウェア構成の一例を示すブロック図である。図2は、計測装置1を1台のみ図示し、他の計測装置1の図示を省略している。 Next, the functions of the measuring device 1 will be explained using FIG. 2. FIG. 2 is a block diagram showing an example of the software configuration of the measuring device 1. As shown in FIG. FIG. 2 shows only one measuring device 1 and omits illustration of other measuring devices 1.

図2において、計測システム10は計測装置1を1台のみ図示しているが、計測装置1を複数台含むことができる。計測装置1は、他の計測装置1と無線通信を介して通信可能に接続されている。計測装置1の通信方式は、無線通信以外であってもよく、例えば、電力線を介した電力線通信、LANケーブルを介した有線通信、または近距離無線通信等であってもよい。 Although only one measuring device 1 is shown in the measuring system 10 in FIG. 2, the measuring system 10 can include a plurality of measuring devices 1. The measuring device 1 is communicably connected to other measuring devices 1 via wireless communication. The communication method of the measuring device 1 may be other than wireless communication, and may be, for example, power line communication via a power line, wired communication via a LAN cable, short-range wireless communication, or the like.

計測装置1は、サンプリング部11、処理部12、設定情報取得部13、設定保持部14、動作制御部15および通信制御部16の各機能部を有している。本実施形態における計測装置1の上記各機能部は、計測装置1を制御する計測装置制御プログラム(ソフトウェア)によって実現される機能モジュールであるものとして説明する。 The measuring device 1 includes a sampling section 11 , a processing section 12 , a setting information acquisition section 13 , a setting holding section 14 , an operation control section 15 , and a communication control section 16 . The above-mentioned functional units of the measuring device 1 in this embodiment will be described as functional modules realized by a measuring device control program (software) that controls the measuring device 1.

<計測装置1>
サンプリング部11は、時刻カウンタ111、波数カウンタ112、電圧測定部113および電流測定部114を有する。サンプリング部11は、電力線の計測点における電圧または電流の少なくとも何れか1つの波形のサンプリングを所定のサンプリングタイミングで実行する。例えば、図1に示した計測装置1aにおけるサンプリング部11は、主幹40における分電盤42の電源側を計測点として計測された電圧または電流の波形をサンプリングする。電圧測定部113は電圧波形をサンプリングし、電流測定部114は電流波形をサンプリングする。電圧測定部113は、例えば、100Vから200Vまたは220Vから240Vの範囲の電圧波形をサンプリングする。また、電流測定部114は、主幹遮断機の遮断電流に応じた電流範囲において電流波形をサンプリングする。
<Measuring device 1>
The sampling section 11 includes a time counter 111, a wave number counter 112, a voltage measurement section 113, and a current measurement section 114. The sampling unit 11 performs sampling of at least one waveform of voltage or current at a measurement point of the power line at a predetermined sampling timing. For example, the sampling unit 11 in the measuring device 1a shown in FIG. 1 samples the voltage or current waveform measured using the power supply side of the distribution board 42 in the master 40 as a measurement point. The voltage measuring section 113 samples the voltage waveform, and the current measuring section 114 samples the current waveform. The voltage measurement unit 113 samples a voltage waveform in a range of, for example, 100V to 200V or 220V to 240V. Further, the current measuring unit 114 samples the current waveform in a current range corresponding to the breaking current of the master circuit breaker.

サンプリング部11は、例えば、電圧測定部113において検知された電圧波形または電流測定部114において検知された電流波形を所定のタイミング(サンプリングタイミングという場合がある。)においてサンプリングする。サンプリングタイミングは、例えば、秒単位の時刻をカウントする時刻カウンタ111と、1秒間における波数をカウントする波数カウンタ112によって決定される。本実施形態においては、時刻カウンタ111と波数カウンタ112を用いて、サンプリングスロットにおける波形起点をサンプリングタイミングとする場合を例示して後述する。なお、波形起点は、後述するゼロクロス点とすることができる。ゼロクロス点を波形起点とする波数カウンタ112はゼロクロス点をカウントする「ゼロクロスカウンタ」と言う場合がある。サンプリング部11においてサンプリングされる波形データは、例えば、アナログデータである。本実施形態において波形データという場合、アナログデータかデジタルデータかを限定しない。 The sampling unit 11 samples, for example, the voltage waveform detected by the voltage measurement unit 113 or the current waveform detected by the current measurement unit 114 at a predetermined timing (sometimes referred to as sampling timing). The sampling timing is determined by, for example, a time counter 111 that counts time in seconds and a wave number counter 112 that counts the number of waves in one second. In the present embodiment, an example will be described later in which the time counter 111 and the wave number counter 112 are used to set the waveform starting point in the sampling slot as the sampling timing. Note that the waveform starting point can be a zero-crossing point, which will be described later. The wave number counter 112 whose waveform starts at a zero-crossing point is sometimes referred to as a "zero-crossing counter" that counts zero-crossing points. The waveform data sampled by the sampling section 11 is, for example, analog data. In this embodiment, waveform data is not limited to analog data or digital data.

処理部12は、サンプリング部11においてサンプリングされた波形データの処理を複数の処理スロットにおいて実行する。処理スロットとは、波形データの処理単位であり、電源の電圧または電流の波形に同期して、所定の周期で繰り返して実行される。処理スロットは、例えば、1秒間の周期においてn回(例えば、n=10またはn=20)、すなわち1/n秒間において実行される処理単位である。例えば、n=20の処理スロットは、1つの処理スロットが0.05秒間の処理時間において実行される。処理スロットは、例えば、内部クロックのクロック数によって定められる処理単位であってもよい。処理部12は、0~(n-1)のn個の処理スロットを所定の周期(例えば、1秒)で繰り返し実行する。なお、実施例においては全ての処理スロットにおける処理時間が同じ場合を例示するが、処理スロットにおける処理時間は、それぞれの処理スロットにおいて異なるものであってもよい。 The processing unit 12 processes the waveform data sampled by the sampling unit 11 in a plurality of processing slots. A processing slot is a processing unit of waveform data, and is repeatedly executed at a predetermined cycle in synchronization with the voltage or current waveform of the power supply. A processing slot is, for example, a processing unit that is executed n times (for example, n=10 or n=20) in a period of 1 second, that is, every 1/n second. For example, for n=20 processing slots, one processing slot is executed in a processing time of 0.05 seconds. For example, a processing slot may be a processing unit determined by the number of clocks of an internal clock. The processing unit 12 repeatedly executes n processing slots from 0 to (n-1) at a predetermined period (eg, 1 second). In addition, in the embodiment, a case is illustrated in which the processing time in all processing slots is the same, but the processing time in each processing slot may be different in each processing slot.

処理部12において実行される処理スロットには、例えば以下のものを含むことができる。 The processing slots executed in the processing unit 12 can include, for example, the following.

(サンプリングスロット)
サンプリングスロットとは、サンプリング部11において波形をサンプリングする処理を実行する処理スロットである。サンプリングスロットにおいて、処理部12は、サンプリング部11に対して「波形起点」における波形のサンプリングを実行させる。波形起点とは、サンプリングスロットにおいて、波形をサンプリングする起点となるタイミングである。例えば、波形起点は、サンプリングスロットにおいて検出される電圧または電流の波形を基準として予め定めることができる。
(sampling slot)
The sampling slot is a processing slot in which the sampling unit 11 executes a process of sampling a waveform. In the sampling slot, the processing unit 12 causes the sampling unit 11 to perform sampling of the waveform at the “waveform starting point”. The waveform starting point is the timing at which the waveform is sampled in a sampling slot. For example, the waveform starting point can be predetermined based on the voltage or current waveform detected in the sampling slot.

例えば、商用周波数が50Hz(周期0.02秒)の電源の波形は、サンプリングスロットが0.05秒間において実行される場合、サンプリングスロットにおいて2.5回(0.05/0.02=2.5)含まれることになる。処理スロットは電源の波形に同期して実行される。ここで、波形起点を、「サンプリングスロットにおいて、波形の極性が最初に負から正に変化するゼロクロス点」、または、「サンプリングスロットにおいて、波形の極性が2回目に正から負に変化するゼロクロス点」等と定めることができる。ゼロクロス点とは、波形の極性の正負が逆転するタイミングであり、容易に検出することができる。波形起点は、他の計測装置1において調整される波形起点と同期される。ゼロクロス点は、検出が容易であるため、波形起点を同期する他の計測装置1においても容易に検出することができ、装置コストを低減することができる。また、ゼロクロス点を波形起点とすることにより、サンプリングされた波形データはゼロ点を起点とする波形となり、波形データの正規化等の処理が容易となる。 For example, the waveform of a power supply with a commercial frequency of 50 Hz (period: 0.02 seconds) has a sampling slot of 2.5 times (0.05/0.02=2. 5) Will be included. The processing slots are executed in synchronization with the power waveform. Here, the waveform starting point is defined as "the zero-crossing point where the polarity of the waveform first changes from negative to positive in the sampling slot" or "the zero-crossing point where the polarity of the waveform changes from positive to negative for the second time in the sampling slot". ”, etc. The zero crossing point is the timing at which the polarity of the waveform is reversed, and can be easily detected. The waveform starting point is synchronized with the waveform starting point adjusted in another measuring device 1. Since the zero-crossing point is easy to detect, it can be easily detected even in other measuring devices 1 that synchronize the waveform starting point, and the device cost can be reduced. Further, by using the zero crossing point as the waveform starting point, the sampled waveform data becomes a waveform starting from the zero point, and processing such as normalization of the waveform data becomes easy.

(その他の処理スロット)
処理部12は、その他の処理スロットとして、サンプリング部11においてサンプリングされたアナログ波形をデジタル波形に変換(A/D変換)する変換スロット、変換されたデジタル波形を演算する演算スロット、演算されたデジタル波形の波形データを記憶する処理スロット、および演算された波形データを送信する送信スロット等を実行することができる。なお、変換スロットは、サンプリングスロットと同じ処理スロットにおいて実行されてもよい。
(Other processing slots)
The processing section 12 includes, as other processing slots, a conversion slot for converting the analog waveform sampled in the sampling section 11 into a digital waveform (A/D conversion), a calculation slot for calculating the converted digital waveform, and a calculated digital waveform. A processing slot for storing waveform data of a waveform, a transmission slot for transmitting calculated waveform data, etc. can be executed. Note that the conversion slot may be executed in the same processing slot as the sampling slot.

ここで、演算スロットにおいて実行されるデジタル波形の演算として以下に波形データの正規化処理を例示する。 Here, waveform data normalization processing will be exemplified below as an example of the digital waveform calculation executed in the calculation slot.

波形データの正規化処理の一例として、処理部12は、サンプリングされた波形起点から波形終点までのアナログ波形データの近似波形データを生成し、アナログ波形データの1周期分のサンプル数と波形周期により正規化周期を算出し、さらに近似波形データを波形起点から正規化周期によりサンプリングする。正規化処理された波形データは、電気機器毎の波形データに分離する分離処理に利用される。波形データの分離処理には、例えば、Factorial HMM(Hidden Markov Model)を用いることができる。具体的には、まず、各電気機器の動作状況をモデル化したモデルパラメータを予め用意しておく。波形データは、Factorial HMMにより、時系列毎に複数の状態変数に分離される。分離された状態変数は、予め用意されたモデルパラメータと比較されることにより、電気機器を特定することができる。なお、上述した分離処理を計測データ管理装置2において実行する場合を後述する。 As an example of waveform data normalization processing, the processing unit 12 generates approximate waveform data of the analog waveform data from the sampled waveform start point to the waveform end point, and calculates the approximate waveform data based on the number of samples for one cycle of the analog waveform data and the waveform period. A normalized cycle is calculated, and approximate waveform data is sampled from the waveform starting point using the normalized cycle. The normalized waveform data is used for separation processing to separate waveform data for each electrical device. For example, a Factorial HMM (Hidden Markov Model) can be used to separate the waveform data. Specifically, first, model parameters that model the operating status of each electrical device are prepared in advance. Waveform data is separated into a plurality of state variables for each time series by Factorial HMM. The electrical device can be identified by comparing the separated state variables with model parameters prepared in advance. Note that a case where the above-mentioned separation process is executed in the measurement data management device 2 will be described later.

設定情報取得部13は、計測装置1の動作を定める設定情報を取得する。設定情報とは、計測装置1の動作を予め定めた情報であって、例えば、以下の情報を含むことができる。 The setting information acquisition unit 13 acquires setting information that defines the operation of the measuring device 1. The setting information is information that predetermines the operation of the measuring device 1, and can include, for example, the following information.

<同期信号に係る設定情報>
設定情報は、複数の計測装置1においてサンプリングタイミングを同期させる同期信号に係る設定情報を含んでいてもよい。同期信号は、複数の計測装置1においてサンプリングタイミングを同期させるための信号である(詳細は後述)。同期信号は、計測装置1から他の計測装置1に対して提供される。ここで、同期信号を他の計測装置1に対して提供する計測装置1を「親機」という。また、親機から同期信号を取得する計測装置1を「子機」という。すなわち、同期信号は親機から子機に対して提供される。複数の計測装置1において、サンプリングタイミングを同期させることにより、電圧波形または電流波形の取得を同期させることが可能となる。同期信号に係る設定情報とは、計測装置1が親機になるか否かの情報であり、設定情報に親機になるとの情報が含まれる場合、親機になるとの情報を含む設定情報を取得した計測装置1は親機として設定される。この場合、親機になるとの情報を含まない設定情報を取得した計測装置1を子機とすることができる(親機として設定されない計測装置1を非明示的に子機とみなしてもよい)。また、設定情報には、明示的に子機になるとの情報を含ませてもよい。設定情報に子機になるとの情報が含まれる場合、子機になるとの情報を含む設定情報を取得した計測装置1は明示的に子機として設定される。
<Setting information related to synchronization signal>
The setting information may include setting information related to a synchronization signal that synchronizes sampling timing in the plurality of measuring devices 1. The synchronization signal is a signal for synchronizing sampling timing in the plurality of measurement devices 1 (details will be described later). The synchronization signal is provided from the measuring device 1 to other measuring devices 1. Here, the measuring device 1 that provides synchronization signals to other measuring devices 1 is referred to as a "master device." Furthermore, the measuring device 1 that acquires the synchronization signal from the master device is referred to as a "slave device." That is, the synchronization signal is provided from the base unit to the slave unit. By synchronizing the sampling timings of the plurality of measuring devices 1, it is possible to synchronize the acquisition of voltage waveforms or current waveforms. The setting information related to the synchronization signal is information as to whether or not the measuring device 1 becomes the parent device, and if the setting information includes information that it becomes the parent device, the setting information that includes the information that it becomes the parent device is The acquired measuring device 1 is set as a parent device. In this case, the measuring device 1 that has acquired setting information that does not include information that it will become a parent device can be made a slave device (measuring device 1 that is not set as a parent device may be implicitly regarded as a slave device). . Further, the setting information may include information explicitly indicating that the device becomes a slave device. When the setting information includes information indicating that the measuring device 1 will become a slave device, the measuring device 1 that has acquired the setting information including the information that it will become a slave device is explicitly set as a slave device.

<サンプリングする波形の位相の設定に係る設定情報>
設定情報は、サンプリングする波形の位相の設定に係る情報を含んでいてもよい。サンプリングする波形の位相の設定に係る情報が含まれる設定情報を取得した計測装置1は、設定情報に従いサンプリングする波形の相を設定(変更)する。サンプリングする電力線が複数の相を有する場合、それぞれの相のゼロクロス点は所定の位相差を有することになる。例えば、電力線が三相三線式である場合、R、SおよびTの各相は120度の位相差を有することになるため、それぞれの相のゼロクロス点も120度の位相差を有することになる。また、電力線が単相三線式である場合、L1およびL2の各相は180度の位相差を有することになるため、L1およびL2のゼロクロス点も180度の位相差を有することになる。複数の計測装置1においてサンプリングする波形の位相を揃えることにより、それぞれの計測装置1におけるサンプリングタイミングを揃えることが可能となる。
<Setting information related to setting the phase of the waveform to be sampled>
The setting information may include information related to setting the phase of the waveform to be sampled. The measuring device 1 that has acquired the setting information including information related to the setting of the phase of the waveform to be sampled sets (changes) the phase of the waveform to be sampled according to the setting information. If the power line to be sampled has a plurality of phases, the zero-crossing points of each phase will have a predetermined phase difference. For example, if the power line is a three-phase three-wire type, each phase of R, S, and T will have a phase difference of 120 degrees, so the zero-crossing point of each phase will also have a phase difference of 120 degrees. . Further, if the power line is a single-phase three-wire type, each phase of L1 and L2 will have a phase difference of 180 degrees, so the zero cross point of L1 and L2 will also have a phase difference of 180 degrees. By aligning the phases of the waveforms sampled in the plurality of measuring devices 1, it becomes possible to align the sampling timings of the respective measuring devices 1.

<その他の設定情報>
設定情報は、計測装置1に関する他の情報を含んでいてもよい。例えば、設定情報には、同期信号の提供のタイミングもしくは提供の頻度、サンプリングのタイミング(例えば、サンプリング間隔)、有効な通信チャネル(波形データを送信するチャンネル)等を設定するための情報が含まれていてもよい。また、設定情報には、計測装置1の動作を停止または起動させるための情報が含まれていてもよい。
<Other settings information>
The setting information may include other information regarding the measuring device 1. For example, the configuration information includes information for setting the timing or frequency of providing synchronization signals, sampling timing (for example, sampling interval), valid communication channels (channels for transmitting waveform data), etc. You can leave it there. Further, the setting information may include information for stopping or starting the operation of the measuring device 1.

設定情報は、ネットワーク9を介して通信可能に接続された設定情報管理装置5から提供される。設定情報管理装置5は、設定情報提供部51および設定情報管理部52を有する。設定情報管理部52は、それぞれの計測装置1(例えば、計測装置1a~1d)に対応した設定情報を記憶して管理する。なお、設定情報管理部52は、図示しない端末装置から設定情報を設定して記憶させるようにしてもよい。設定情報提供部51は、設定情報管理部52において管理されている設定情報を設定情報取得部13に提供する。設定情報取得部13は、動作制御部15が基準的な時刻を提供する時刻提供装置6に対して内部時計に設定する時刻の問い合わせを実行した後に設定情報を取得することができる。時刻提供装置6は、例えばNTP(Network Time Protocol)サーバである。時刻提供装置6は、複数のNTPサーバであってもよい。 The setting information is provided from the setting information management device 5 communicably connected via the network 9 . The configuration information management device 5 includes a configuration information providing section 51 and a configuration information management section 52. The setting information management unit 52 stores and manages setting information corresponding to each measuring device 1 (eg, measuring devices 1a to 1d). Note that the setting information management unit 52 may set and store setting information from a terminal device (not shown). The configuration information providing unit 51 provides the configuration information managed by the configuration information management unit 52 to the configuration information acquisition unit 13. The setting information acquisition unit 13 can acquire the setting information after the operation control unit 15 inquires of the time providing device 6, which provides the standard time, about the time to be set in the internal clock. The time providing device 6 is, for example, an NTP (Network Time Protocol) server. The time providing device 6 may be a plurality of NTP servers.

設定情報の取得において、例えば、動作制御部15が時刻提供装置6に対して内部時計に設定する時刻の問い合わせを実行した後、設定情報取得部13が設定情報管理装置5に対して設定情報の提供をリクエストして、そのリクエストに対して設定情報管理装置5が設定情報を提供することにより、設定情報取得部13が設定情報を取得するようにしてもよい。例えば、内部時計に設定する時刻の問い合わせが実行された後、設定情報取得部13は設定情報管理装置5に対してHTTP(Hypertext Transfer Protocol)リクエストを送信する。HTTPリクエストには、HTTPの追加情報として、計測装置1のメーカ名、型式またはファームウエアのバージョン情報、シリアル番号等の情報の計測装置1を特定するための情報を含ませることができる。設定情報管理装置5は、受信したHTTPリクエストに含まれる計測装置1を特定するための情報に基づき、提供する設定情報を特定して、HTTPレスポンスとして特定した設定情報を設定情報取得部13に対して提供するようにしてもよい。 In acquiring the setting information, for example, after the operation control unit 15 inquires of the time providing device 6 about the time to be set in the internal clock, the setting information acquisition unit 13 sends the setting information to the setting information management device 5. The setting information acquisition unit 13 may acquire the setting information by requesting provision and having the setting information management device 5 provide the setting information in response to the request. For example, after inquiring about the time set in the internal clock, the setting information acquisition unit 13 transmits an HTTP (Hypertext Transfer Protocol) request to the setting information management device 5. The HTTP request can include information for identifying the measuring device 1, such as the manufacturer's name, model or firmware version information, and serial number of the measuring device 1, as additional HTTP information. The configuration information management device 5 specifies the configuration information to be provided based on the information for specifying the measurement device 1 included in the received HTTP request, and sends the specified configuration information as an HTTP response to the configuration information acquisition unit 13. It may also be provided as follows.

また、設定情報の取得において、設定情報管理装置5は、動作制御部15が時刻提供装置6に対して内部時計に設定する時刻の問い合わせを実行したか否かを監視して、問合せを実行したことを確認した場合、設定情報取得部13に対して設定情報を提供するようにしてもよい。なお、本実施形態において「取得」という場合、主体的な取得(プル型取得)であっても、能動的な取得(プッシュ型取得)であってもよい。すなわち、設定情報取得部13は、設定情報管理装置5からプッシュ型で設定情報の送信を能動的に受けてもよく、また、設定情報管理装置5に記憶されている設定情報を主体的にダウンロード等してもよい。同様に、本実施形態において「提供」という場合、主体的な提供(プッシュ型提供)であっても、能動的な提供(プル型提供)であってもよい。すなわち、「取得」および「提供」の動作は動作主体を限定するものではない。 In addition, in acquiring the setting information, the setting information management device 5 monitors whether the operation control unit 15 has made an inquiry to the time providing device 6 about the time to be set in the internal clock, and executes the inquiry. If this is confirmed, the setting information may be provided to the setting information acquisition unit 13. Note that in this embodiment, "acquisition" may refer to proactive acquisition (pull type acquisition) or active acquisition (push type acquisition). That is, the setting information acquisition unit 13 may actively receive push-type transmission of setting information from the setting information management device 5, or may actively download the setting information stored in the setting information management device 5. may be equal. Similarly, in the present embodiment, "provision" may be proactive provision (push-type provision) or active provision (pull-type provision). In other words, the operations of "obtaining" and "providing" do not limit the operator.

設定保持部14は、設定情報取得部13において取得された設定情報を保持する。設定情報の保持とは、設定情報を計測装置1の内部に記憶させることであっても、設定情報を計測装置1の外部に記憶されたものを読み出し可能にすることであってもよい。例えば、設定保持部14は、設定情報が記憶された記憶先へのリンク情報を保持するものであってよい。 The setting holding unit 14 holds the setting information acquired by the setting information acquiring unit 13. Holding the setting information may mean storing the setting information inside the measuring device 1, or making setting information stored outside the measuring device 1 readable. For example, the setting holding unit 14 may hold link information to a storage location where setting information is stored.

動作制御部15は、設定保持部に保持された設定情報に基づき、計測装置1の動作を制御する。以下に、動作制御部15によって制御される計測装置1の動作を例示する。 The operation control section 15 controls the operation of the measuring device 1 based on the setting information held in the setting holding section. The operation of the measuring device 1 controlled by the operation control section 15 will be illustrated below.

<時刻問い合せ動作>
動作制御部15は、基準的な時刻を提供する時刻提供装置6に対して内部時計に設定する時刻の問い合わせを実行する、例えば、動作制御部15は、計測装置1が設置された直後において、また計測装置1の構成(例えば、計測装置1a~1nの新たな設置または変更)があったときに内部時計に設定する時刻の問い合わせを行う。また、動作制御部15は、内部時計の設定がされていない(例えば、初期状態である)のを確認して時刻の問い合わせをするようにしてもよい。
<Time inquiry operation>
The operation control unit 15 inquires of the time providing device 6, which provides the standard time, about the time to be set in the internal clock. Further, when there is a configuration of the measuring device 1 (for example, new installation or change of the measuring devices 1a to 1n), an inquiry is made regarding the time to be set in the internal clock. Further, the operation control unit 15 may make an inquiry about the time after confirming that the internal clock is not set (for example, in the initial state).

<親機または子機設定動作>
また、動作制御部15は、同期信号に係る設定が設定情報おいてされている場合、計測装置1を親機または子機とする設定動作を実行する。動作制御部15は、設定情報に同期信号に係る情報が含まれている場合、計測装置1を親機または子機に設定する。
<Main unit or slave unit setting operation>
Further, if settings related to the synchronization signal are set in the setting information, the operation control unit 15 executes a setting operation that makes the measuring device 1 a master device or a slave device. If the setting information includes information related to a synchronization signal, the operation control unit 15 sets the measuring device 1 as a master device or a slave device.

<サンプリング波形設定動作>
また、動作制御部15は、設定情報にサンプリングする波形の位相の設定に係る情報が含まれている場合、波形を同期させる動作を実行する。例えば、電力線が三相三線式である場合、サンプリングする波形を120度または240度遅延させる(または進める)処理を行う。また、電力線が単相三線式である場合、サンプリングする波形を180度遅延させる(または進める)(すなわち波形の正負を反転させる)。これにより、サンプリングする波形を同期させることができる。
<Sampling waveform setting operation>
Further, when the setting information includes information related to setting the phase of the waveform to be sampled, the operation control unit 15 executes an operation to synchronize the waveforms. For example, if the power line is a three-phase, three-wire type, the waveform to be sampled is delayed (or advanced) by 120 degrees or 240 degrees. Further, if the power line is a single-phase three-wire type, the waveform to be sampled is delayed (or advanced) by 180 degrees (that is, the sign of the waveform is reversed). This allows the waveforms to be sampled to be synchronized.

<同期信号通信動作>
また、動作制御部15は、同期させる同期信号に係る設定が設定情報おいてされている場合、他の計測装置1との、同期信号の通信を制御する。同期信号の通信とは、例えば、計測装置1が親機である場合、同期信号の提供(送信)に係る通信である。一方、例えば、計測装置1が子機である場合、同期信号の通信とは同期信号の取得(受信)に係る通信である。なお、本実施形態においては、子機が親機に対して同期信号の取得を要求し、その要求に応じて親機が子機に対して同期信号を送信する場合を例示する。
<Synchronous signal communication operation>
Further, the operation control unit 15 controls communication of the synchronization signal with other measuring devices 1 when settings related to the synchronization signal to be synchronized are set in the setting information. Communication of a synchronization signal is, for example, communication related to providing (transmission) of a synchronization signal when the measuring device 1 is a master device. On the other hand, for example, when the measuring device 1 is a child device, the communication of the synchronization signal is communication related to acquisition (reception) of the synchronization signal. In this embodiment, a case will be exemplified in which the slave device requests the master device to acquire a synchronization signal, and the master device transmits the synchronization signal to the slave device in response to the request.

動作制御部15は、計測装置1が子機である場合、ネットワークを介して通信可能に接続された他の計測装置1に対して、同期信号の提供の要求を取得する。動作制御部15は、予め定められた所定の条件において同期信号の提供を要求する。同期信号の提供を要求する所定の条件とは、例えば、1時間毎等の所定時間の経過、処理スロットの所定回数の実行、または、装置のリセットボタンの押下等の操作者による明示的な操作等である。一方、計測装置1が親機である場合、動作制御部15は、他の計測装置1からの要求に応じて処理スロットにおける処理の処理タイミングに基づき同期信号を提供する。 When the measuring device 1 is a child device, the operation control unit 15 obtains a request for providing a synchronization signal from another measuring device 1 communicably connected via the network. The operation control unit 15 requests provision of a synchronization signal under predetermined conditions. The predetermined condition that requests the provision of a synchronization signal is, for example, the passage of a predetermined time such as every hour, the execution of a processing slot a predetermined number of times, or an explicit operation by the operator such as pressing a reset button on the device. etc. On the other hand, when the measuring device 1 is a master device, the operation control unit 15 provides a synchronization signal based on the processing timing of the processing in the processing slot in response to a request from another measuring device 1.

同期信号とは、処理スロットの処理タイミングを同期させるための情報であって、例えば、時刻情報、波数(ゼロクロス)カウンタの値、サンプリングタイミング、処理スロットの番号等の情報を含めることができる。例えば、同期信号は、計測装置1の処理スロットの実行状況に基づき生成される。時刻情報は、例えば、計測装置1の内部に含まれる内部時計の値である。波数カウンタの値は、例えば、1秒間におけるカウントされたゼロクロスの回数である。サンプリングタイミングの情報は、サンプリングするタイミングを示す波数カウンタの値である。 The synchronization signal is information for synchronizing the processing timing of the processing slots, and can include information such as time information, the value of a wave number (zero cross) counter, sampling timing, and the number of the processing slot. For example, the synchronization signal is generated based on the execution status of the processing slot of the measuring device 1. The time information is, for example, the value of an internal clock included inside the measuring device 1. The value of the wave number counter is, for example, the number of zero crossings counted in one second. The sampling timing information is a wave number counter value indicating the sampling timing.

処理スロットの番号とは、計測装置1において実行中の処理スロットのスロット番号である。スロット番号は、処理スロットの数がnである場合、1からnのいずれかの整数である。処理部12におけるスロット処理の周期が1秒間でありスロット数が20であり全ての処理スロットが同じ時間で実行される場合、サンプリングスロットが0.05秒間において実行される。ここでスロット番号1の処理は、0秒を処理の開始時間として、0~0.05秒の間で実行される。また、スロット番号2の処理は、0.05~0.10秒の間で実行される。すなわち、同期信号としてのスロット番号は、最大1/n秒の時間誤差を含むことになる(周期が1秒の場合)。同期信号により、波形起点を1/nの誤差範囲において、大まかに同期させることが可能となる。したがって、計測装置1と他の計測装置1の通信が無線通信等によって遅延する場合であっても、無線通信における遅延が実行しているスロット番号に影響を与えない範囲であれば通信遅延の影響を無視することが可能となる。 The processing slot number is the slot number of the processing slot being executed in the measuring device 1. The slot number is any integer from 1 to n when the number of processing slots is n. When the period of slot processing in the processing unit 12 is 1 second, the number of slots is 20, and all processing slots are executed in the same time, the sampling slot is executed in 0.05 seconds. Here, the processing of slot number 1 is executed for a period of 0 to 0.05 seconds, with 0 seconds as the processing start time. Further, the process of slot number 2 is executed for 0.05 to 0.10 seconds. That is, the slot number as a synchronization signal includes a time error of 1/n second at maximum (if the period is 1 second). The synchronization signal allows the waveform starting points to be roughly synchronized within an error range of 1/n. Therefore, even if communication between measuring device 1 and another measuring device 1 is delayed due to wireless communication, etc., the effect of the communication delay is within the range where the delay in wireless communication does not affect the slot number being executed. can be ignored.

<同期動作>
動作制御部15は、計測装置1が子機である場合、取得した同期信号に基づき、サンプリング処理またはサンプリングされた波形の処理の処理タイミングを調整する。動作制御部15は、親機から取得された同期信号に基づき、処理スロットにおける処理の処理タイミングを調整する。動作制御部15は、先ず、同期信号に基づき、波形起点を処理スロットの処理時間(1/n:nは処理スロット数)の誤差範囲において、大まかに処理タイミングを同期させる。動作制御部15は、次に、ゼロクロス点等の波形に基づき、処理タイミングを詳細に同期させる。
<Synchronous operation>
When the measuring device 1 is a child device, the operation control unit 15 adjusts the processing timing of the sampling process or the process of the sampled waveform based on the acquired synchronization signal. The operation control unit 15 adjusts the processing timing of the processing in the processing slot based on the synchronization signal acquired from the master device. First, the operation control unit 15 roughly synchronizes the processing timing between the waveform starting point and the processing time of the processing slot (1/n: n is the number of processing slots) based on the synchronization signal. The operation control unit 15 then synchronizes the processing timing in detail based on waveforms such as zero crossing points.

ここで、動作制御部15における、処理スロットの処理タイミングの調整を、図3から図5を用いて説明する。図3~図4は、処理スロットのスロット番号を用いて処理タイミングを大まかに調整する処理を例示している。 Here, adjustment of the processing timing of processing slots in the operation control section 15 will be explained using FIGS. 3 to 5. 3 and 4 illustrate a process of roughly adjusting processing timing using slot numbers of processing slots.

図3は、複数の計測装置1の処理スロットにおける処理タイミングの時間的なズレの一例を示す図である。図3(A)は、計測装置1(親機)の処理スロットの処理タイミングを示すタイムチャートである。図3(B)は、計測装置1(子機)の処理スロットの処理タイミングを示すタイムチャートである。 FIG. 3 is a diagram illustrating an example of a temporal shift in processing timing in processing slots of a plurality of measuring devices 1. FIG. 3(A) is a time chart showing the processing timing of the processing slot of the measuring device 1 (master device). FIG. 3(B) is a time chart showing the processing timing of the processing slot of the measuring device 1 (slave device).

図3(A)において、計測装置1(親機)は、1秒間において、スロット番号0~19の20個の処理スロットを実行する。すなわち、1つの処理スロットの処理時間は、1/20=0.05秒である。処理スロットは、スロット番号19→18→17の順で実行されて、スロット番号0の処理スロットを実行した後、再びスロット番号19の処理スロットが実行される。スロット番号18は、サンプリングスロットである。サンプリングスロットの黒丸Sは、波形のサンプリングのタイミングを示している。 In FIG. 3A, the measuring device 1 (master device) executes 20 processing slots with slot numbers 0 to 19 in one second. That is, the processing time of one processing slot is 1/20=0.05 seconds. The processing slots are executed in the order of slot numbers 19→18→17, and after the processing slot with slot number 0 is executed, the processing slot with slot number 19 is executed again. Slot number 18 is a sampling slot. A black circle S in the sampling slot indicates the timing of waveform sampling.

図3(B)において、計測装置1(子機)は、親機と同様に、1秒間において、スロット番号0~19の20個の処理スロットを実行する。ここで、子機は、親機に対して遅延時間d1において処理スロットを実行している。このため、波形のサンプリングタイミングも遅延時間d1だけ遅延することになる。なお、図3または図4における遅延時間dは、子機の処理タイミングが遅延する正の値である場合を示したが、遅延時間dは、子機の処理タイミングが先行する負の値であってもよい。 In FIG. 3B, the measuring device 1 (slave device) executes 20 processing slots with slot numbers 0 to 19 in one second, similarly to the parent device. Here, the child device executes a processing slot with respect to the parent device during the delay time d1. Therefore, the sampling timing of the waveform is also delayed by the delay time d1. Although the delay time d in FIG. 3 or 4 is a positive value in which the processing timing of the slave unit is delayed, the delay time d is a negative value in which the processing timing of the slave unit is in advance. It's okay.

処理スロットの実行の遅延は、例えば、子機の電源が投入された直後に発生する(未同期な状態)。また、処理スロットの実行の遅延は、子機の内部時計が親機の内部時計とずれている場合に発生する(同期が経時的にずれた状態)。本実施形態における子機は、図3に示すこれらの状態によって生じている処理スロットの処理タイミングを同期させるものである。 A delay in the execution of a processing slot occurs, for example, immediately after the slave unit is powered on (unsynchronized state). Furthermore, a delay in the execution of a processing slot occurs when the internal clock of the child device is out of sync with the internal clock of the parent device (a state where the synchronization is out of sync over time). The child device in this embodiment synchronizes the processing timing of processing slots caused by these states shown in FIG. 3.

なお、本実施形態においては、サンプリングスロットの処理タイミングを同期させることを目的とする。したがって、動作制御部15における処理タイミングの調整においては、サンプリングスロット以外の処理スロットは、複数の計測装置1において異なるものであってもよい。また、処理スロット数が異なり1つの処理スロットの処理時間が異なる場合であっても、サンプリングスロットの処理タイミングが同期できればよい。 Note that the present embodiment aims to synchronize the processing timing of sampling slots. Therefore, in adjusting the processing timing in the operation control section 15, the processing slots other than the sampling slots may be different in the plurality of measuring devices 1. Further, even if the number of processing slots is different and the processing time of one processing slot is different, it is sufficient that the processing timing of the sampling slots can be synchronized.

図4は、動作制御部15において子機の処理スロットの処理タイミングを調整したことの一例を示す図である。図4(A)は、計測装置1(親機)の処理スロットの処理タイミングを示すタイムチャートである。図4(B)は、動作制御部15による調整後の計測装置1(子機)の処理スロットの処理タイミングを示すタイムチャートである。 FIG. 4 is a diagram illustrating an example of how the operation control unit 15 adjusts the processing timing of the processing slot of the slave device. FIG. 4(A) is a time chart showing the processing timing of the processing slot of the measuring device 1 (master device). FIG. 4(B) is a time chart showing the processing timing of the processing slot of the measuring device 1 (slave unit) after adjustment by the operation control unit 15.

図4(A)は、図3(A)と同一であるため説明を省略する。図4(B)は、同期信号を用いて、処理タイミングの遅延時間d2を処理スロットの処理時間である1/20(0.05)秒未満になるように調整した後のタイムチャートである。すなわち、d2<0.05秒である。同期信号は、計測装置1において実行中の処理スロットを示す情報であるため、同期信号に要求のタイミングに応じて0.05秒の誤差を含んでいる。動作制御部15は、この誤差を含み処理タイミングを先ず大まかに調整するため、同期信号を取得する際の通信の遅延が処理中のスロット番号に影響を与えない程度であれば遅延時間を無視することができる。これにより、同期信号の取得において無線LAN等の安価な通信手段を用いることが可能となる。 Since FIG. 4(A) is the same as FIG. 3(A), description thereof will be omitted. FIG. 4B is a time chart after adjusting the delay time d2 of the processing timing to be less than 1/20 (0.05) second, which is the processing time of the processing slot, using the synchronization signal. That is, d2<0.05 seconds. Since the synchronization signal is information indicating the processing slot being executed in the measuring device 1, the synchronization signal includes an error of 0.05 seconds depending on the timing of the request. The operation control unit 15 first roughly adjusts the processing timing including this error, so if the communication delay when acquiring the synchronization signal does not affect the slot number being processed, the delay time is ignored. be able to. This makes it possible to use an inexpensive communication means such as a wireless LAN in acquiring the synchronization signal.

図5は、動作制御部15における計測装置1(子機)の処理タイミングの調整の一例を示す図である。 FIG. 5 is a diagram showing an example of adjustment of the processing timing of the measuring device 1 (slave unit) in the operation control unit 15.

図5において、スロット番号18に示すサンプリングスロットは、商用電源の波形のゼロクロス点と同期して実行される。サンプリングスロットの処理時間は、0.05秒である。商用電源の周波数が50Hzである場合、1つの処理スロットには、2.5周期の波形が含まれることになる。処理スロットの処理タイミングを波形の極性が負から正に反転するゼロクロス点に同期した場合、サンプリングスロットには、z1~z6の6つのゼロクロス点が含まれることになる。動作制御部15は、処理タイミングをz1、z3またはz5のゼロクロス点に調整することができる。処理タイミングをいずれのゼロクロス点にするかは同期信号において設定することができる。動作制御部15は、設定したゼロクロス点において処理タイミングを同期させることにより、黒丸Sに示すサンプリングタイミングを計測装置1と同期させることができる。以上で図3から図5の説明を終わり、図2の説明に戻る。 In FIG. 5, the sampling slot indicated by slot number 18 is executed in synchronization with the zero-crossing point of the waveform of the commercial power supply. The processing time of a sampling slot is 0.05 seconds. If the frequency of the commercial power source is 50 Hz, one processing slot will include a waveform with 2.5 cycles. If the processing timing of the processing slot is synchronized with the zero-crossing point where the polarity of the waveform is reversed from negative to positive, the sampling slot will include six zero-crossing points, z1 to z6. The operation control unit 15 can adjust the processing timing to the zero cross point of z1, z3, or z5. Which zero-crossing point to set the processing timing to can be set in the synchronization signal. The operation control unit 15 can synchronize the sampling timing indicated by the black circle S with the measuring device 1 by synchronizing the processing timing at the set zero-crossing point. This concludes the explanation of FIGS. 3 to 5, and returns to the explanation of FIG. 2.

なお、計測装置1が有する上述した各機能部は、それぞれの装置が有する機能部の一例を示したものであり、それぞれの装置が有する機能を限定したものではない。例えば、それぞれの装置は、上記全ての機能部を有している必要はなく、一部の機能部を有するものであってもよい。また、それぞれの装置は、上記以外の他の機能を有していてもよい。 Note that the above-mentioned functional units included in the measuring device 1 are examples of the functional units included in each device, and do not limit the functions included in each device. For example, each device does not need to have all of the above functional units, and may have some of the functional units. Further, each device may have other functions than those described above.

また上述の各機能部は、ソフトウェアによって実現されるものとして説明した。しかし、上記機能部の中で少なくとも1つ以上の機能部は、ハードウェアによって実現されるものであっても良い。 Furthermore, each of the above-mentioned functional units has been described as being realized by software. However, at least one of the functional units described above may be realized by hardware.

また、上記何れかの機能部は、1つの機能部を複数の機能部に分割して実施してもよい。また、上記何れか2つ以上の機能部を1つの機能部に集約して実施してもよい。すなわち、図2は、計測システム10における機能を機能ブロックで表現したものであり、例えば、各機能部がそれぞれ別個のプログラムファイルで構成されていることを示すものではない。 Further, any of the above functional units may be implemented by dividing one functional unit into a plurality of functional units. Furthermore, any two or more of the functional units described above may be integrated into one functional unit. That is, FIG. 2 expresses the functions of the measurement system 10 using functional blocks, and does not indicate, for example, that each functional section is constituted by a separate program file.

また、それぞれの装置は、1つの筐体によって実現される装置であっても、ネットワーク等を介して接続された複数の装置から実現されるシステムであってもよい。例えば、計測装置1は、その機能の一部または全部をクラウドコンピューティングシステムによって提供されるクラウドサービス等、仮想的な装置によって実現するものであってもよい。すなわち、計測装置1は、上記各機能部のうち、少なくとも1以上の機能部を他の装置において実現するようにしてもよい。また、計測装置1は、デスクトップPC等の汎用的なコンピュータであってもよく、機能が限定された専用の装置であってもよい。 Moreover, each device may be a device realized by one casing, or a system realized by a plurality of devices connected via a network or the like. For example, the measuring device 1 may realize some or all of its functions using a virtual device such as a cloud service provided by a cloud computing system. That is, in the measuring device 1, at least one of the above functional units may be implemented in another device. Further, the measuring device 1 may be a general-purpose computer such as a desktop PC, or may be a dedicated device with limited functions.

計測データ管理装置2は、計測データ受信部21、同期計測データ記憶部22、同期計測データ処理部23、処理データ記憶部24および計測データ提供部25を有する。 The measurement data management device 2 includes a measurement data receiving section 21, a synchronous measurement data storage section 22, a synchronous measurement data processing section 23, a processed data storage section 24, and a measurement data providing section 25.

計測データ受信部21は、複数の計測装置1から送信された計測データ(波形データ)を受信する。同期計測データ記憶部22は、複数の計測装置1において同期して計測された計測データを記憶する。例えば、同期計測データ記憶部22は、2つの計測装置1において同期して計測された2つの波形データをを対応付けし、対応付けした情報を2つの波形データとともに記憶する。 The measurement data receiving unit 21 receives measurement data (waveform data) transmitted from the plurality of measurement devices 1. The synchronous measurement data storage unit 22 stores measurement data synchronously measured by the plurality of measuring devices 1. For example, the synchronous measurement data storage unit 22 associates two pieces of waveform data measured synchronously by the two measuring devices 1, and stores the information about the association together with the two waveform data.

同期計測データ処理部23は、同期して計測された計測データを処理する。例えば、同期計測データ処理部23は、電気機器(冷蔵庫31、テレビ32および電気ポット33)の動作状況を推定する。動作状況の推定は、上述のように、波形データをFactorial HMMにより、時系列毎に複数の状態変数に分離して、予め用意されたモデルパラメータと比較することにより、実行することができる。同期計測データ処理部23は、それぞれの電気機器のモデルパラメータを予め記憶しておく。電気機器は常に新製品が発売されるため、計測データ管理装置2は、最新の電気機器のモデルパラメータを、例えば、図示しないクラウドサーバから取得するようにしてもよい。同期計測データ処理部23は、同期して計測された複数の計測データの差分を算出することにより、他の電気機器の計測データの影響を小さくして目的の電気機器の動作状況を推定することが可能となる。 The synchronous measurement data processing unit 23 processes measurement data measured synchronously. For example, the synchronous measurement data processing unit 23 estimates the operating status of electrical equipment (refrigerator 31, television 32, and electric kettle 33). As described above, the operating status can be estimated by separating the waveform data into a plurality of state variables for each time series using the Factorial HMM and comparing them with model parameters prepared in advance. The synchronous measurement data processing unit 23 stores model parameters of each electrical device in advance. Since new electrical equipment products are always released, the measurement data management device 2 may acquire model parameters of the latest electrical equipment from a cloud server (not shown), for example. The synchronous measurement data processing unit 23 estimates the operating status of a target electrical device by reducing the influence of measurement data of other electrical devices by calculating the difference between a plurality of measurement data measured synchronously. becomes possible.

処理データ記憶部24は、同期計測データ処理部23において処理された処理データを記憶する。また、計測データ提供部25は、処理データ記憶部24に記憶された処理データを、利用者端末7(例えば、デスクトップPC、ノートPC、タブレットPC、またはスマートフォン等)に対して提供する。 The processed data storage unit 24 stores the processed data processed in the synchronous measurement data processing unit 23. Further, the measurement data providing unit 25 provides the processing data stored in the processing data storage unit 24 to the user terminal 7 (for example, a desktop PC, a notebook PC, a tablet PC, a smartphone, etc.).

次に、図6を用いて、上述した計測システム10の動作を説明する。図6は、実施形態における計測装置を含む計測システムの動作の一例を示すシーケンス図である。 Next, the operation of the measurement system 10 described above will be explained using FIG. 6. FIG. 6 is a sequence diagram illustrating an example of the operation of the measurement system including the measurement device according to the embodiment.

図6において、計測システム10は、計測装置1aと計測装置1bの2台の計測装置1において、計測装置1aが親機として設定され、計測装置1bは子機として明示的には設定されず非明示的に子機とみなされる場合を示している。 In FIG. 6, the measurement system 10 includes two measuring devices 1, a measuring device 1a and a measuring device 1b, in which the measuring device 1a is set as a parent device, and the measuring device 1b is not explicitly set as a slave device and is a non-measuring device. This shows the case where it is explicitly regarded as a slave device.

計測装置1aは、時刻提供装置6に対して内部時計に設定する時刻の問い合わせを実行し(ステップS1-1)、時刻の情報を取得する(ステップS2-1)。同様に、計測装置1bは、時刻提供装置6に対して内部時計に設定する時刻の問い合わせを実行し(ステップS1-2)、時刻の情報を取得する(ステップS2-2)。なお、ステップS1-1の処理とステップS1-2の処理は計測装置1aの状態(例えば、設置直後の状態)と計測装置1aの状態においてそれぞれ非同期で実行されるものであってもよい。 The measuring device 1a inquires of the time providing device 6 about the time to be set in the internal clock (step S1-1), and obtains time information (step S2-1). Similarly, the measuring device 1b inquires of the time providing device 6 about the time to be set in the internal clock (step S1-2), and obtains time information (step S2-2). Note that the process of step S1-1 and the process of step S1-2 may be executed asynchronously in the state of the measuring device 1a (for example, the state immediately after installation) and the state of the measuring device 1a, respectively.

設定情報管理装置5は、設定情報管理部52に記憶されている計測装置1と設定情報との対応を参照し、計測装置1aに対して同期信号に係る情報を含む設定情報を提供する(ステップS3)。すなわち、計測装置1aは、提供された設定情報に基づき、自機を、同期信号を提供する親機として設定する。 The configuration information management device 5 refers to the correspondence between the measurement device 1 and the configuration information stored in the configuration information management unit 52, and provides the measurement device 1a with configuration information including information related to the synchronization signal (step S3). That is, the measuring device 1a sets its own device as a parent device that provides a synchronization signal based on the provided setting information.

親機として設定された計測装置1aは、計測装置1bに対して同期信号を提供する(ステップS41)。計測装置1bは、同期信号を提供されることにより自機を子機として設定する。 The measuring device 1a set as a parent device provides a synchronization signal to the measuring device 1b (step S41). The measuring device 1b sets itself as a child device by being provided with the synchronization signal.

計測装置1aは、サンプリングタイミングにおいて測定点における波形をサンプリングして波形データを計測データ管理装置2に提供する(ステップS5-11)。また、計測装置1bは、サンプリングタイミングにおいて測定点における波形をサンプリングして波形データを計測データ管理装置2に提供する(ステップS5-21)。ステップS5-11およびステップS5-21の処理はサンプリングタイミング毎に繰り返して実行される(ステップS5-1nおよびステップS5-2n)。 The measurement device 1a samples the waveform at the measurement point at the sampling timing and provides the waveform data to the measurement data management device 2 (step S5-11). Furthermore, the measurement device 1b samples the waveform at the measurement point at the sampling timing and provides the waveform data to the measurement data management device 2 (step S5-21). The processes of step S5-11 and step S5-21 are repeatedly executed at each sampling timing (step S5-1n and step S5-2n).

計測装置1aは、所定のタイミングで計測装置1bに対して同期信号を提供する(ステップS4n)。所定のタイミングとは、親機と子機のサンプリングタイミングのずれが発生するタイミングであり、例えば、電源が再投入されたときである。所定のタイミングにおいて親機から子機に対して同期信号を提供することにより、サンプリングタイミングを容易に同期させることができ、ロバスト性を向上させることが可能となる。 The measuring device 1a provides a synchronization signal to the measuring device 1b at a predetermined timing (step S4n). The predetermined timing is the timing at which a difference in sampling timing between the master device and the slave device occurs, for example, when the power is turned on again. By providing a synchronization signal from the master device to the slave device at a predetermined timing, sampling timing can be easily synchronized and robustness can be improved.

次に、図7を用いて、計測装置1のハードウェア構成を説明する。図7は、実施形態における計測装置1のハードウェア構成の一例を示すブロック図である。 Next, the hardware configuration of the measuring device 1 will be explained using FIG. 7. FIG. 7 is a block diagram showing an example of the hardware configuration of the measuring device 1 in the embodiment.

計測装置1は、CPU(Central Processing Unit)101、RAM(Random Access Memory)102、ROM(Read Only Memory)103、タッチパネル104および通信I/F(Interface)105を有する。計測装置1は、図1で説明した計測装置1を制御する計測装置制御プログラムを実行する装置である。 The measuring device 1 includes a CPU (Central Processing Unit) 101, a RAM (Random Access Memory) 102, a ROM (Read Only Memory) 103, a touch panel 104, and a communication I/F (Interface) 105. The measuring device 1 is a device that executes a measuring device control program that controls the measuring device 1 explained in FIG.

CPU101は、RAM102またはROM103に記憶された情報処理プログラムを実行することにより、計測装置1の制御を行う。計測装置制御プログラムは、例えば、プログラムを記録した記録媒体、又はネットワークを介したプログラム配信サーバ等から取得されて、ROM103にインストールされ、CPU101から読出されて実行される。 The CPU 101 controls the measuring device 1 by executing an information processing program stored in the RAM 102 or ROM 103. The measuring device control program is acquired from, for example, a recording medium on which the program is recorded or a program distribution server via a network, installed in the ROM 103, read out by the CPU 101, and executed.

タッチパネル104は、操作入力機能と表示機能(操作表示機能)を有する。タッチパネル104は、計測装置1の利用者に対して指先又はタッチペン等を用いた操作入力を可能にする。本実施形態における計測装置1は操作表示機能を有するタッチパネル104を用いる場合を説明するが、計測装置1は、表示機能を有する表示装置と操作入力機能を有する操作入力装置とを別個有するものであってもよい。その場合、タッチパネル104の表示画面は表示装置の表示画面、タッチパネル104の操作は操作入力装置の操作として実施することができる。なお、タッチパネル104は、ヘッドマウント型、メガネ型、腕時計型のディスプレイ等の種々の形態によって実現されてもよい。 The touch panel 104 has an operation input function and a display function (operation display function). The touch panel 104 allows the user of the measuring device 1 to input operations using a fingertip, a touch pen, or the like. Although the measuring device 1 in this embodiment uses a touch panel 104 having an operation display function, the measuring device 1 may have a display device having a display function and an operation input device having an operation input function separately. You can. In that case, the display screen of the touch panel 104 can be performed as a display screen of a display device, and the operation of the touch panel 104 can be performed as an operation of an operation input device. Note that the touch panel 104 may be realized in various forms such as a head-mounted display, a glasses-type display, a wristwatch-type display, and the like.

通信I/F105は、通信用のI/Fである。通信I/F105は、例えば、無線LAN、有線LAN、赤外線等の近距離無線通信を実行する。図7において通信用のI/Fは通信I/F105のみを図示するが、計測装置1は複数の通信方式においてそれぞれの通信用のI/Fを有するものであってもよい。 Communication I/F 105 is a communication I/F. The communication I/F 105 performs short-range wireless communication such as wireless LAN, wired LAN, and infrared rays, for example. Although only the communication I/F 105 is shown as the communication I/F in FIG. 7, the measuring device 1 may have communication I/Fs for each of a plurality of communication methods.

検知部106は、電源線の電流または電圧のアナログ波形データを検知する。検知部106は、例えば、100Vから200Vまたは220Vから240Vの範囲の電圧を測定することができる。検知部106は、契約電流を上限とする電流を測定することができる。検知部106は、電源が単相3線式電源である場合、例えば、電流2チャンネルおよび電圧1チャンネルの合計3チャンネルを検知してもよい。 The detection unit 106 detects analog waveform data of current or voltage of the power line. The detection unit 106 can measure a voltage in a range of, for example, 100V to 200V or 220V to 240V. The detection unit 106 can measure the current with the upper limit being the contracted current. When the power source is a single-phase three-wire power source, the detection unit 106 may detect a total of three channels, for example, two current channels and one voltage channel.

なお、図示したハードウェアの構成は、装置の構成の一部を例示したものであり、ハードウェアの構成を限定するものではない。ハードウェアの構成には、例えば、スイッチ、キーボード等の入力装置、LED等の表示装置、スピーカ等の音声出力装置等を含んでいてもよい。 Note that the illustrated hardware configuration is a partial example of the device configuration, and is not intended to limit the hardware configuration. The hardware configuration may include, for example, an input device such as a switch or a keyboard, a display device such as an LED, an audio output device such as a speaker, and the like.

次に、図8~図12を用いて、計測装置1、計測データ管理装置2および設定情報管理装置5の動作を説明する。図8~図12は、実施形態における計測装置制御プログラム、設定情報管理装置制御プログラムまたは設定情報管理装置制御プログラムの動作の一例を示すフローチャートである。以下のフローチャートの説明において、動作の実行主体は計測装置1、計測データ管理装置2または設定情報管理装置5であるものとして説明するが、それぞれの動作は、上述したそれぞれの装置の各機能部において実行することができる。 Next, the operations of the measurement device 1, measurement data management device 2, and setting information management device 5 will be explained using FIGS. 8 to 12. 8 to 12 are flowcharts showing an example of the operation of the measuring device control program, the setting information management device control program, or the setting information management device control program in the embodiment. In the explanation of the flowcharts below, it is assumed that the measuring device 1, the measurement data management device 2, or the setting information management device 5 executes the operations. can be executed.

図8は、設定情報管理装置5の設定情報提供の動作を示す。図8において、設定情報管理装置5は、計測装置1における時刻の問合せがあったか否かを判断する(ステップS11)。計測装置1における時刻の問合せがあったか否かは、例えば、計測装置1の通信内容を監視して検知することにより判断することができる。時刻の問合せがなかったと判断した場合(ステップS11:NO)、設定情報管理装置5は、ステップS11の処理を繰り返し、時刻の問合せを検知するのを待機する。 FIG. 8 shows the operation of the setting information management device 5 for providing setting information. In FIG. 8, the setting information management device 5 determines whether or not there is an inquiry about the time in the measuring device 1 (step S11). Whether or not there is an inquiry about the time in the measuring device 1 can be determined, for example, by monitoring and detecting the communication content of the measuring device 1. If it is determined that there is no time inquiry (step S11: NO), the setting information management device 5 repeats the process of step S11 and waits for the time inquiry to be detected.

一方、時刻の問合せがあったと判断した場合(ステップS11:YES)、設定情報管理装置5は、設定情報管理部52に記憶されている設定情報を読み出し(ステップS12)、設定情報を計測装置1に提供し(ステップS13)、フローチャートに示す動作を終了する。 On the other hand, if it is determined that there is an inquiry about the time (step S11: YES), the setting information management device 5 reads out the setting information stored in the setting information management section 52 (step S12), and transfers the setting information to the measuring device 1. (step S13), and the operation shown in the flowchart ends.

図9は、計測装置1の設定情報に基づく設定動作を示す。実施形態における計測装置の動作の一例を示すフローチャートである。 FIG. 9 shows a setting operation based on setting information of the measuring device 1. It is a flowchart which shows an example of operation of a measuring device in an embodiment.

図9において、計測装置1は、設定情報を取得したか否かを判断する(ステップS21)。設定情報を取得していないと判断した場合(ステップS21:NO)、計測装置1は、ステップS21の処理を繰り返し、設定情報の取得を待機する。 In FIG. 9, the measuring device 1 determines whether setting information has been acquired (step S21). If it is determined that the setting information has not been acquired (step S21: NO), the measuring device 1 repeats the process of step S21 and waits for the acquisition of the setting information.

一方、設定情報を取得したと判断した場合(ステップS21:YES)、計測装置1は、取得した設定情報に同期信号に係る情報が含まれているか否かを判断する(ステップS22)。同期信号に係る情報が含まれていると判断した場合(ステップS22:YES)。計測装置1は、設定情報に同期信号を提供する設定が含まれているか否かを判断する(ステップS23)。同期信号を提供する設定が含まれていると判断した場合(ステップS23:YES)、計測装置1は、自装置を、同期信号を提供する親機として設定する(ステップS24)。一方、同期信号を提供する設定が含まれていない(親機ではない)、または同期信号を取得する設定が含まれている(子機である)と判断した場合(ステップS23:NO)、計測装置1は、自装置を同期信号を取得する子機として設定する(親機として設定しないことを含む)(ステップS25)。 On the other hand, if it is determined that the setting information has been acquired (step S21: YES), the measuring device 1 determines whether or not the acquired setting information includes information related to a synchronization signal (step S22). If it is determined that information related to a synchronization signal is included (step S22: YES). The measuring device 1 determines whether the setting information includes a setting for providing a synchronization signal (step S23). If it is determined that a setting for providing a synchronization signal is included (step S23: YES), the measuring device 1 sets itself as a master device that provides a synchronization signal (step S24). On the other hand, if it is determined that the setting to provide a synchronization signal is not included (it is not a master device) or the setting to obtain a synchronization signal is included (it is a slave device) (step S23: NO), the measurement The device 1 sets itself as a child device that acquires a synchronization signal (including not setting it as a parent device) (step S25).

ステップS22において同期信号に係る情報が含まれていないと判断した場合(ステップS22:NO)、または、ステップS24の処理もしくはステップS25の処理を実行した後、計測装置1は、取得した設定情報に位相設定に係る情報が含まれているか否かを判断する(ステップS26)。位相設定に係る情報が含まれていると判断した場合(ステップS26:YES)、計測装置1は、設定情報に基づきサンプリングする波形の遅延または進み(波形の正負反転を含む)を設定する(ステップS27)。位相設定に係る情報が含まれていないと判断した場合(ステップS26:NO)、またはステップS27の処理を実行した後、計測装置1は、フローチャートに示す動作を終了する。 If it is determined in step S22 that the information related to the synchronization signal is not included (step S22: NO), or after executing the process in step S24 or the process in step S25, the measuring device 1 adds the acquired setting information to It is determined whether information related to phase setting is included (step S26). If it is determined that information related to the phase setting is included (step S26: YES), the measuring device 1 sets the delay or advance (including inversion of the waveform) of the waveform to be sampled based on the setting information (step S26: YES). S27). If it is determined that information related to phase setting is not included (step S26: NO), or after executing the process of step S27, the measuring device 1 ends the operation shown in the flowchart.

図10は、計測装置1の波形データのサンプリングの動作を示す。図10において、計測装置1は、サンプリングタイムか否かを判断する(ステップS31)。サンプリングタイムは、サンプリングスロットの処理においてサンプリングタイミング(例えば、所定のゼロクロス点)であるか否かによって判断することができる。サンプリングタイムでないと判断した場合(ステップS31:NO)、装置は、ステップS31の処理を繰り返し、サンプリングタイミングを待機する。 FIG. 10 shows the operation of sampling the waveform data of the measuring device 1. In FIG. 10, the measuring device 1 determines whether it is sampling time (step S31). The sampling time can be determined based on whether or not it is a sampling timing (for example, a predetermined zero-crossing point) in processing a sampling slot. If it is determined that it is not the sampling time (step S31: NO), the device repeats the process of step S31 and waits for the sampling timing.

一方、サンプリングタイムであると判断した場合(ステップS31:YES)、計測装置1は、計測点における波形データ(電圧または電流波形)をサンプリングする(ステップS32)。計測装置1は、サンプリングした波形データを処理する(ステップS33)。計測装置1は、波形データの処理を複数の処理スロットで実行する。波形データの処理とは、例えば、アナログデータのA/D変換、または波形データの正規化等である。計測装置1は、処理した波形データを計測データ管理装置2に送信して(ステップS34)、フローチャートに示す動作を終了する。 On the other hand, if it is determined that it is sampling time (step S31: YES), the measuring device 1 samples the waveform data (voltage or current waveform) at the measurement point (step S32). The measuring device 1 processes the sampled waveform data (step S33). The measurement device 1 processes waveform data in a plurality of processing slots. Processing of waveform data includes, for example, A/D conversion of analog data or normalization of waveform data. The measurement device 1 transmits the processed waveform data to the measurement data management device 2 (step S34), and ends the operation shown in the flowchart.

図11は、計測装置1(親機)における同期信号提供動作を示す。図11において、計測装置1は、ネットワークを介して通信可能に接続された計測装置1(子機)から、同期信号の提供の要求が取得されたか否かを判断する(ステップS41)。要求が取得されていないと判断した場合(ステップS41:NO)、親機は、ステップS41の処理を繰り返して要求の取得を待機する。 FIG. 11 shows the synchronization signal providing operation in the measuring device 1 (base unit). In FIG. 11, the measuring device 1 determines whether a request for providing a synchronization signal has been acquired from the measuring device 1 (slave unit) communicably connected via the network (step S41). If it is determined that the request has not been obtained (step S41: NO), the base device repeats the process of step S41 and waits for the request to be obtained.

一方、要求が取得されたと判断した場合(ステップS41:YES)、親機は、現在実行中の処理スロットの処理タイミングに基づき事項情報を生成する(ステップS42)。親機は、生成した同期信号を子機に提供して(ステップS43)、フローチャートに示す動作を終了する。 On the other hand, if it is determined that the request has been acquired (step S41: YES), the base device generates item information based on the processing timing of the processing slot currently being executed (step S42). The master device provides the generated synchronization signal to the slave device (step S43), and ends the operation shown in the flowchart.

図12は、計測装置1(子機)における処理タイミングの同期動作を示す。図12において、子機は、処理タイミングの同期を開始するか否かを判断する(ステップS51)。同期の開始は、例えば、子機の電源が投入されたとき、またはリセット操作がされたときに行われる。同期を開始しないと判断した場合(ステップS51:NO)、子機は、ステップS51の処理を繰り返し、同期の開始を待機する。 FIG. 12 shows a synchronized operation of processing timing in the measuring device 1 (slave unit). In FIG. 12, the slave device determines whether to start synchronizing the processing timing (step S51). Synchronization is started, for example, when the handset is powered on or when a reset operation is performed. If it is determined not to start synchronization (step S51: NO), the child device repeats the process of step S51 and waits for the start of synchronization.

一方、同期を開始したと判断した場合(ステップS51:YES)、子機は、親機に対して、同期信号の提供を要求する(ステップS52)。例えば、子機は親機からの最初の同期信号を受信することにより、親機のネットワーク上のアドレスを認識してもよく、また、子機は、IP(Internet Protocol)ネットワークにおいてノードの到達性を確認するためのコマンド(例えば、PINGコマンド)を送信し、応答があった装置のIPアドレスに対して同期信号の提供を要求するようにしてもよい。 On the other hand, if it is determined that synchronization has started (step S51: YES), the child device requests the parent device to provide a synchronization signal (step S52). For example, the slave unit may recognize the address of the base unit on the network by receiving the first synchronization signal from the base unit, and the slave unit may recognize the address of the base unit on the network. A command (for example, a PING command) for confirming this may be sent, and the IP address of the device that responded may be requested to provide a synchronization signal.

ステップS52の処理を実行した後、子機は、同期信号を取得したか否かを判断する(ステップS53)。同期信号を取得していないと判断した場合(ステップS53:NO)、子機は、タイムアウトとなるまで同期信号の取得を待機する。 After executing the process of step S52, the slave device determines whether a synchronization signal has been acquired (step S53). If it is determined that the synchronization signal has not been acquired (step S53: NO), the slave device waits to acquire the synchronization signal until a timeout occurs.

一方、同期信号を取得したと判断した場合(ステップS53:YES)、子機は、取得された同期信号に基づき、処理スロットにおける処理の処理タイミングをおおまかに調整(第1調整)する(ステップS54)。次に、子機は、波形に基づき、処理タイミングを詳細に調整(第2調整)する(ステップS55)。 On the other hand, if it is determined that the synchronization signal has been acquired (step S53: YES), the slave device roughly adjusts the processing timing of the process in the processing slot (first adjustment) based on the acquired synchronization signal (step S54). ). Next, the slave device finely adjusts the processing timing (second adjustment) based on the waveform (step S55).

次に、子機は、親機に対して、同期信号の提供を要求する(ステップS56)。ステップS56における処理は、ステップS52における処理と同様である。 Next, the child device requests the parent device to provide a synchronization signal (step S56). The processing in step S56 is similar to the processing in step S52.

次に、子機は、処理タイミングの同期が完了したか否かを判断する(ステップS57)。同期が完了したか否かは、上述したゼロクロス点が親機と一致したか否かで判断することができる。処理タイミングの同期が完了していないと判断した場合(ステップS57:NO)、子機は、ゼロクロス点を調整する(ステップS58)。ステップS58の処理を実行した後、子機は、再びステップS55~ステップS57の処理を繰り返して同期が完了したことを確認する。一方、処理タイミングの同期が完了したと判断した場合(ステップS57:YES)、子機は、フローチャートに示す処理を終了する。 Next, the slave device determines whether synchronization of processing timing is completed (step S57). Whether or not the synchronization is completed can be determined by whether or not the above-mentioned zero-crossing point coincides with the base device. If it is determined that the synchronization of the processing timing is not completed (step S57: NO), the child device adjusts the zero-crossing point (step S58). After executing the process in step S58, the slave unit repeats the processes in steps S55 to S57 again to confirm that the synchronization is completed. On the other hand, if it is determined that the synchronization of the processing timing has been completed (step S57: YES), the slave device ends the processing shown in the flowchart.

図12においては、同期信号の提供を子機が親機に要求する場合を示したが、例えば、設定情報に子機のアドレスを含ませる等により、親機が自発的に子機に対して同期信号を送信するようにしてもよい。 In Figure 12, the case where the slave unit requests the base unit to provide a synchronization signal is shown, but for example, by including the address of the slave unit in the setting information, the base unit voluntarily requests the slave unit A synchronization signal may also be transmitted.

なお、本実施形態で説明するフローチャートの各ステップにおける処理は、実行順序を限定するものではない。例えば、並列的に処理ができる処理の実行順序は、いずれの処理を先に実行してもよい。 Note that the processing in each step of the flowchart described in this embodiment is not limited to the order of execution. For example, any process that can be executed in parallel may be executed first.

次に、図13を用いて、計測装置1(子機)の処理タイミングの調整を説明する。図13は、実施形態における子機の処理タイミングの調整の一例を示す図である。 Next, adjustment of the processing timing of the measuring device 1 (slave device) will be explained using FIG. 13. FIG. 13 is a diagram illustrating an example of adjusting the processing timing of a slave device in the embodiment.

図13は、商用周波数(50Hx)における2周期分(0.02秒×2周期)における親機の同期信号と、子機における同期信号を示している。T(M)、C(M)およびS(M)は、親機における同期信号のパラメータである。T(S)、C(S)およびS(S)は、子機における同期信号のパラメータである。 FIG. 13 shows the synchronization signal of the base unit and the synchronization signal of the slave unit for two cycles (0.02 seconds x 2 cycles) at the commercial frequency (50Hx). T(M), C(M) and S(M) are parameters of the synchronization signal in the base unit. T(S), C(S) and S(S) are parameters of the synchronization signal in the slave device.

T(M)は、親機における時計の値である。時計の値は、例えば、親機に含まれる内部時計から取得することがきる。T(S)は、子機における時計の値である。時計の値は、例えば、子機に含まれる内部時計から取得することがきる。 T(M) is the value of the clock in the parent device. The clock value can be obtained from, for example, an internal clock included in the base device. T(S) is the value of the clock in the slave device. The clock value can be obtained from, for example, an internal clock included in the slave device.

C(M)は、親機において商用波形の正負が反転するゼロクロス点をカウントしたゼロクロスカウンタの値である。ゼロクロスカウンタの値は、例えば、処理部12において、検出したゼロクロス点を1秒間において計数することにより得られることができる。例えば、商用周波数が50Hzである場合、1秒間に50回のゼロクロス点が存在するため、ゼロクロスカウンタの値は、0~49の値となる。同様に、C(S)は、子機において商用波形の正負が反転するゼロクロス点をカウントしたゼロクロスカウンタの値である。 C(M) is the value of a zero-cross counter that counts zero-cross points at which the polarity of the commercial waveform is reversed in the parent device. The value of the zero-crossing counter can be obtained, for example, by counting detected zero-crossing points in one second in the processing unit 12. For example, if the commercial frequency is 50 Hz, there are 50 zero-crossing points per second, so the value of the zero-crossing counter will be a value from 0 to 49. Similarly, C(S) is the value of a zero-cross counter that counts zero-cross points at which the sign of the commercial waveform is reversed in the slave unit.

S(M)は、親機におけるサンプリングタイミングを示す値である。サンプリングタイミングは、波形起点を示すゼロクロスカウンタの値である。S(S)は、子機におけるサンプリングタイミングを示す値である。 S(M) is a value indicating the sampling timing in the base device. The sampling timing is the value of the zero cross counter indicating the waveform starting point. S (S) is a value indicating the sampling timing in the slave device.

商用周波数における第1周期(図示する最初の0.02秒間)において、親機の同期信号のパラメータは、T(M)=948、C(M)=32、S(M)=10である。また、商用周波数における第2周期(図示する2番目の0.02秒間)において、親機の同期信号のパラメータは、T(M)=948、C(M)=33、S(M)=10である。すなわ、商用周波数の1周期において、親機のゼロクロスカウンタは「1」インクリメントされる。 In the first period (the first 0.02 seconds shown) at the commercial frequency, the parameters of the synchronization signal of the base unit are T(M)=948, C(M)=32, and S(M)=10. In addition, in the second cycle (second 0.02 seconds shown) at the commercial frequency, the parameters of the synchronization signal of the base unit are T(M)=948, C(M)=33, S(M)=10 It is. That is, in one cycle of the commercial frequency, the zero cross counter of the base unit is incremented by "1".

商用周波数における第1周期において、子機の同期信号は、T(S)=950、C(S)=3、S(S)=25である。すなわち、第1周期において、親機の同期信号と子機の同期信号にはズレが生じているものとする。商用周波数における第2周期において、子機の同期信号は、T(S)=950、C(S)=4、S(S)=25である。 In the first cycle at the commercial frequency, the synchronization signals of the handset are T(S)=950, C(S)=3, and S(S)=25. That is, it is assumed that in the first cycle, there is a difference between the synchronization signal of the master device and the synchronization signal of the slave device. In the second period at the commercial frequency, the synchronization signals of the handset are T(S)=950, C(S)=4, and S(S)=25.

第2周期が開始されるゼロクロス点において、親機は、子機に対して同期信号のパラメータを送信する。子機は送信されたパラメータを取得して、取得したパラメータを自身の同期信号にコピーして設定する。これにより、子機の同期信号のパラメータは、T(S)=948、C(S)=33、S(S)=10となり、親機と同じ値になり、処理タイミングが調整される。 At the zero-crossing point where the second cycle starts, the base unit transmits parameters of the synchronization signal to the slave unit. The slave unit acquires the transmitted parameters, copies the acquired parameters to its own synchronization signal, and sets them. As a result, the parameters of the synchronization signal of the child device become T(S)=948, C(S)=33, and S(S)=10, which are the same values as those of the parent device, and the processing timing is adjusted.

子機の同期信号のパラメータを設定した後、親機に対して、パラメータの設定が完了したことを示す完了通知を送信する。親機は、完了通知を受信することにより、子機におけるパラメータの設定が成功したことを認識することができる。親機は、同期信号のパラメータを送信した後、所定の時間内に完了通知を受信しない場合、エラー処理を実行するようにしてもよい。エラー処理とは、例えば、同期信号のパラメータの再送信、またはエラーが発生したことの記録もしくは報知等である。なお、親機は、同期信号の送信から商用周波数の1周期以内(0.02秒以内)に完了通知を受信した場合、送信した同期信号が子機において同じ周期の範囲内で正しく設定されたことを確認することが可能となる。 After setting the parameters of the synchronization signal of the child device, a completion notification indicating that the parameter setting is completed is sent to the parent device. By receiving the completion notification, the base device can recognize that the parameter setting in the slave device has been successful. If the base device does not receive a completion notification within a predetermined time after transmitting the parameters of the synchronization signal, the base device may perform error processing. Error processing includes, for example, retransmitting the parameters of the synchronization signal, or recording or notifying that an error has occurred. In addition, if the master unit receives a completion notification within one commercial frequency cycle (within 0.02 seconds) from the transmission of the synchronization signal, it indicates that the transmitted synchronization signal was correctly set within the same cycle on the slave unit. It is possible to confirm that.

なお、図13で示した処理タイミングの調整は、上述のように第2周期が開始されるゼロクロス点において、親機が同期信号を送信するものであるため、子機において同期信号を設定するタイミングは、同期信号の送信から商用周波数の1周期以内である必要がある。すなわち、親機と子機の通信遅延は、少なくとも商用周波数の1周期以内である必要がある。例えば、子機は、PINGコマンドを送信し、親機からの応答時間を測定することにより、通信遅延を測定し、図13で示した処理タイミングの調整を実行可能か否か判定するようにしてもよい。 Note that the adjustment of the processing timing shown in FIG. 13 is based on the timing at which the synchronization signal is set in the slave unit because the base unit transmits the synchronization signal at the zero-crossing point where the second cycle starts as described above. must be within one cycle of the commercial frequency from the transmission of the synchronization signal. That is, the communication delay between the base unit and the slave unit must be within at least one cycle of the commercial frequency. For example, the slave unit may transmit a PING command and measure the response time from the base unit to measure communication delay and determine whether or not the processing timing adjustment shown in FIG. 13 can be executed. Good too.

なお、本実施形態で説明した装置を構成する機能を実現するためのプログラムを、コンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録して、当該記録媒体に記録されたプログラムをコンピュータシステムに読み込ませ、実行することにより、本実施形態の上述した種々の処理を行ってもよい。なお、ここでいう「コンピュータシステム」とは、OSや周辺機器等のハードウェアを含むものであってもよい。また、「コンピュータシステム」は、WWWシステムを利用している場合であれば、ホームページ提供環境(あるいは表示環境)も含むものとする。また、「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、フレキシブルディスク、光磁気ディスク、ROM、フラッシュメモリ等の書き込み可能な不揮発性メモリ、CD-ROM等の可搬媒体、コンピュータシステムに内蔵されるハードディスク等の記憶装置のことをいう。 Note that it is possible to record a program for realizing the functions constituting the device described in this embodiment on a computer-readable recording medium, and to cause a computer system to read and execute the program recorded on the recording medium. Accordingly, the various processes described above in this embodiment may be performed. Note that the "computer system" here may include hardware such as an OS and peripheral devices. Furthermore, the term "computer system" includes the homepage providing environment (or display environment) if a WWW system is used. Furthermore, "computer-readable recording media" refers to flexible disks, magneto-optical disks, ROMs, writable non-volatile memories such as flash memories, portable media such as CD-ROMs, hard disks built into computer systems, etc. storage device.

さらに「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、インターネット等のネットワークや電話回線等の通信回線を介してプログラムが送信された場合のサーバやクライアントとなるコンピュータシステム内部の揮発性メモリ(例えばDRAM(Dynamic Random Access Memory))のように、一定時間プログラムを保持しているものも含むものとする。また、上記プログラムは、このプログラムを記憶装置等に格納したコンピュータシステムから、伝送媒体を介して、あるいは、伝送媒体中の伝送波により他のコンピュータシステムに伝送されてもよい。ここで、プログラムを伝送する「伝送媒体」は、インターネット等のネットワーク(通信網)や電話回線等の通信回線(通信線)のように情報を伝送する機能を有する媒体のことをいう。また、上記プログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであっても良い。さらに、前述した機能をコンピュータシステムにすでに記録されているプログラムとの組合わせで実現するもの、いわゆる差分ファイル(差分プログラム)であっても良い。 Furthermore, "computer-readable recording medium" refers to volatile memory (for example, DRAM (Dynamic It also includes those that retain programs for a certain period of time, such as Random Access Memory). Further, the program may be transmitted from a computer system storing the program in a storage device or the like to another computer system via a transmission medium or by a transmission wave in a transmission medium. Here, the "transmission medium" that transmits the program refers to a medium that has a function of transmitting information, such as a network (communication network) such as the Internet or a communication line (communication line) such as a telephone line. Moreover, the above program may be for realizing a part of the above-mentioned functions. Furthermore, it may be a so-called difference file (difference program) that realizes the above-mentioned functions in combination with a program already recorded in the computer system.

以上、本発明の実施形態について、図面を参照して説明してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲においての種々の変更も含まれる。 Although the embodiments of the present invention have been described above with reference to the drawings, the specific configuration is not limited to these embodiments, and various modifications may be made without departing from the spirit of the present invention. It will be done.

1 計測装置
10 計測システム
11 サンプリング部
111 時刻カウンタ
112 波数カウンタ
113 電圧測定部
114 電流測定部
12 処理部
13 設定情報取得部
14 設定保持部
15 動作制御部
16 通信制御部
2 計測データ管理装置
21 計測データ受信部
22 同期計測データ記憶部
23 同期計測データ処理部
24 処理データ記憶部
25 計測データ提供部
31 冷蔵庫
32 テレビ
33 電気ポット
34 太陽光発電器
35 電気自動車
41 スマートメータ
42 分電盤
43 パワーコンディショナ
5 設定情報管理装置
6 時刻提供装置
7 利用者端末
9 ネットワーク
101 CPU
102 RAM
103 ROM
104 タッチパネル
105 通信I/F
106 検知部
1 Measuring device 10 Measurement system 11 Sampling section 111 Time counter 112 Wave number counter 113 Voltage measuring section 114 Current measuring section 12 Processing section 13 Setting information acquisition section 14 Setting holding section 15 Operation control section 16 Communication control section 2 Measurement data management device 21 Measurement Data receiving section 22 Synchronous measurement data storage section 23 Synchronous measurement data processing section 24 Processed data storage section 25 Measurement data providing section 31 Refrigerator 32 Television 33 Electric pot 34 Solar power generator 35 Electric vehicle 41 Smart meter 42 Distribution board 43 Power conditioner 5 Setting information management device 6 Time providing device 7 User terminal 9 Network 101 CPU
102 RAM
103 ROM
104 Touch panel 105 Communication I/F
106 Detection section

Claims (12)

電力線の計測点における電圧または電流の少なくとも何れか1つの波形を所定のサンプリングタイミングでサンプリングするサンプリング部と、
前記サンプリング部においてサンプリングされた前記波形の処理を実行する処理部と、
動作を定める設定情報を取得する設定情報取得部と、
前記設定情報取得部において取得された設定情報を保持する設定保持部と、
前記設定保持部に保持された設定情報に基づき、動作を制御する動作制御部と
を備え、
前記動作制御部は、前記設定情報においてサンプリングする前記波形の位相の設定がされている場合、前記設定情報に基づき、前記サンプリング部における前記サンプリングタイミングを、他の計測点において前記波形をサンプリングする他の計測装置における前記波形の位相に合わせるように設定し、前記電力線が単相三線式である場合、前記設定情報に基づき、前記他の計測点における前記波形を反転させるように前記サンプリングタイミングを設定する、計測装置。
a sampling unit that samples at least one waveform of voltage or current at a measurement point of the power line at a predetermined sampling timing;
a processing unit that executes processing of the waveform sampled in the sampling unit;
a configuration information acquisition unit that acquires configuration information that determines the operation;
a settings holding unit that holds the settings information acquired by the settings information acquisition unit;
an operation control unit that controls operations based on the setting information held in the setting holding unit;
When the phase of the waveform to be sampled is set in the setting information, the operation control unit controls the sampling timing in the sampling unit to sample the waveform at another measurement point based on the setting information. If the power line is a single-phase three-wire type, the sampling timing is set to match the phase of the waveform at the other measurement point based on the setting information. A measuring device.
前記動作制御部は、基準的な時刻を提供する時刻提供装置に対して内部時計に設定する時刻の問い合わせを実行し、
前記設定情報取得部は、前記時刻の問い合わせが実行された後に前記設定情報を取得する、請求項1に記載の計測装置。
The operation control unit queries a time providing device that provides a standard time about the time to be set in an internal clock;
The measuring device according to claim 1 , wherein the setting information acquisition unit obtains the setting information after the time inquiry is executed.
前記設定情報取得部は、ネットワークを介して通信可能に接続された設定情報管理装置から前記設定情報を取得する、請求項1または2に記載の計測装置。 The measuring device according to claim 1 or 2 , wherein the configuration information acquisition unit acquires the configuration information from a configuration information management device communicably connected via a network. 前記サンプリング部は、前記波形の正負が反転するゼロクロス点を基準としたサンプリングタイミングで前記波形をサンプリングする、請求項1からのいずれか一項に記載の
計測装置。
The measuring device according to any one of claims 1 to 3 , wherein the sampling unit samples the waveform at a sampling timing based on a zero-crossing point at which the sign of the waveform is reversed.
前記動作制御部は、前記サンプリングタイミングを同期させる同期信号に係る設定が前記設定情報においてされている場合、前記他の計測装置との、前記同期信号の通信を制御する、請求項1からのいずれか一項に記載の計測装置。 The operation control unit controls communication of the synchronization signal with the other measuring device when a setting related to a synchronization signal for synchronizing the sampling timing is set in the setting information. The measuring device according to any one of the items. 前記動作制御部は、前記他の計測装置の内部時計の値と、サンプリングする波形の正負が反転するゼロクロス点をカウントする波数カウンタの値とを含む前記同期信号の通信を制御する、請求項に記載の計測装置。 5. The operation control unit controls communication of the synchronization signal including a value of an internal clock of the other measuring device and a value of a wave number counter that counts a zero-crossing point at which the polarity of the waveform to be sampled is reversed. The measurement device described in . 前記動作制御部は、前記設定情報において前記同期信号を提供する設定がされている場合、前記処理の処理タイミングに基づき前記他の計測装置に対して前記同期信号を提供する、請求項またはに記載の計測装置。 6. The operation control section provides the synchronization signal to the other measuring device based on the processing timing of the process when the setting information is set to provide the synchronization signal. The measurement device described in . 前記動作制御部は、複数の前記他の計測装置に対して同時に前記同期信号を提供する、請求項に記載の計測装置。 The measuring device according to claim 7 , wherein the operation control section simultaneously provides the synchronization signal to a plurality of the other measuring devices. 前記動作制御部は、
前記設定情報において同期信号を取得する設定がされている場合、前記他の計測装置から同期信号を取得し、
取得した同期信号に基づき、前記処理の処理タイミングを調整する
請求項またはに記載の計測装置。
The operation control section includes:
If the setting information is set to acquire a synchronization signal, acquire the synchronization signal from the other measuring device,
The measuring device according to claim 5 or 6 , wherein the processing timing of the processing is adjusted based on the acquired synchronization signal.
前記動作制御部は、前記波形の正負が反転するゼロクロス点を基準として前記処理タイミングを調整する、請求項に記載の計測装置。 The measuring device according to claim 9 , wherein the operation control section adjusts the processing timing based on a zero-crossing point at which the sign of the waveform is reversed. 計測装置を制御するための計測装置制御方法であって、
電力線の計測点における電圧または電流の少なくとも何れか1つの波形を所定のサンプリングタイミングでサンプリングするサンプリングステップと、
前記サンプリングステップにおいてサンプリングされた前記波形の処理を実行する処理ステップと、
動作を定める設定情報を取得する設定情報取得ステップと、
前記設定情報取得ステップにおいて取得された設定情報を保持する設定保持ステップと、
前記設定保持ステップに保持された設定情報に基づき、動作を制御する動作制御ステップと
を含み、
前記動作制御ステップにおいて、前記設定情報においてサンプリングする前記波形の位相の設定がされている場合、前記設定情報に基づき、前記サンプリングステップにおける前記サンプリングタイミングを、他の計測点において前記波形をサンプリングする他の計測装置における前記波形の位相に合わせるように設定し、前記電力線が単相三線式である場合、前記設定情報に基づき、前記他の計測点における前記波形を反転させるように前記サンプリングタイミングを設定する、計測装置制御方法。
A measuring device control method for controlling a measuring device, the method comprising:
a sampling step of sampling at least one waveform of voltage or current at a measurement point of the power line at a predetermined sampling timing;
a processing step of processing the waveform sampled in the sampling step;
a configuration information acquisition step of acquiring configuration information that determines the operation;
a settings retention step for retaining the settings information acquired in the settings information acquisition step;
an operation control step of controlling an operation based on the setting information held in the setting holding step;
In the operation control step, if the phase of the waveform to be sampled is set in the setting information, the sampling timing in the sampling step may be adjusted based on the setting information, and the waveform may be sampled at another measurement point. If the power line is a single-phase three-wire type, the sampling timing is set to match the phase of the waveform at the other measurement point based on the setting information. A measuring device control method.
計測装置に、
電力線の計測点における電圧または電流の少なくとも何れか1つの波形を所定のサンプリングタイミングでサンプリングするサンプリング機能と、
前記サンプリング機能においてサンプリングされた前記波形の処理を実行する処理機能
と、
動作を定める設定情報を取得する設定情報取得機能と、
前記設定情報取得機能において取得された設定情報を保持する設定保持機能と、
前記設定保持機能に保持された設定情報に基づき、動作を制御する動作制御機能と
を実現させ、
前記動作制御機能において、前記設定情報においてサンプリングする前記波形の位相の設定がされている場合、前記設定情報に基づき、前記サンプリング機能における前記サンプリングタイミングを、他の計測点において前記波形をサンプリングする他の計測装置における前記波形の位相に合わせるように設定し、前記電力線が単相三線式である場合、前記設定情報に基づき、前記他の計測点における前記波形を反転させるように前記サンプリングタイミングを設定することを実現させるための、計測装置制御プログラム。


to the measuring device,
a sampling function that samples at least one waveform of voltage or current at a measurement point of the power line at a predetermined sampling timing;
a processing function that executes processing of the waveform sampled in the sampling function;
a setting information acquisition function that obtains setting information that determines the operation;
a settings retention function that retains the settings information acquired in the settings information acquisition function;
and an operation control function that controls operations based on the setting information held in the setting holding function,
In the operation control function, if the phase of the waveform to be sampled is set in the setting information, the sampling timing in the sampling function may be changed to sample the waveform at another measurement point based on the setting information. If the power line is a single-phase three-wire type, the sampling timing is set to match the phase of the waveform at the other measurement point based on the setting information. A measurement device control program that allows you to achieve this .


JP2019086766A 2019-04-26 2019-04-26 Measuring device, measuring device control method, and measuring device control program Active JP7360646B2 (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019086766A JP7360646B2 (en) 2019-04-26 2019-04-26 Measuring device, measuring device control method, and measuring device control program
EP20171383.1A EP3730951B1 (en) 2019-04-26 2020-04-24 Measurement device, measurement device control method, and measurement device control program

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019086766A JP7360646B2 (en) 2019-04-26 2019-04-26 Measuring device, measuring device control method, and measuring device control program

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2020183874A JP2020183874A (en) 2020-11-12
JP7360646B2 true JP7360646B2 (en) 2023-10-13

Family

ID=70464906

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019086766A Active JP7360646B2 (en) 2019-04-26 2019-04-26 Measuring device, measuring device control method, and measuring device control program

Country Status (2)

Country Link
EP (1) EP3730951B1 (en)
JP (1) JP7360646B2 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115662383B (en) * 2022-12-22 2023-04-14 杭州爱华智能科技有限公司 Method and system for deleting main sound source, method, system and device for identifying multiple sound sources

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005189012A (en) 2003-12-25 2005-07-14 Toshiba Corp Power measuring device
JP2006292448A (en) 2005-04-07 2006-10-26 Hioki Ee Corp Measuring system
JP2010175413A (en) 2009-01-30 2010-08-12 Hioki Ee Corp Measuring system
JP2013117484A (en) 2011-12-05 2013-06-13 Panasonic Corp Power measurement system
JP2013181813A (en) 2012-03-01 2013-09-12 Omron Corp Power consumption sensor, extension unit thereof, and power consumption measurement system
JP2014199209A (en) 2013-03-29 2014-10-23 パナソニック株式会社 Sensor unit, electric power measurement unit and electric power measurement system
JP2015152345A (en) 2014-02-12 2015-08-24 株式会社ダイヘン Measuring device, power system monitoring system, and measuring method

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH642214B (en) 1978-07-06 1900-01-01 Ciba Geigy Ag PROCEDURE FOR PROTECTING KERATINIC MATERIALS FROM KERATIN-EATING INSECTS.
JPS5755726A (en) * 1980-09-22 1982-04-02 Tokyo Shibaura Electric Co Protecting relay system testing device
WO2011012146A1 (en) * 2009-07-30 2011-02-03 Prysmian S.P.A. Method and system for monitoring a cable system of an electric power transmission system
US9146259B2 (en) * 2011-04-19 2015-09-29 Schneider Electric It Corporation Smart current transformers
US9031800B2 (en) * 2011-07-13 2015-05-12 Schneider Electric USA, Inc. Power determination from separated voltage and current sensors
US9804201B2 (en) * 2012-04-25 2017-10-31 Schneider Electric It Corporation Current monitoring device
US9413519B2 (en) * 2014-04-11 2016-08-09 Thomas & Betts International, Inc. Wireless transmission synchronization using a power line signal
US10879695B2 (en) * 2014-07-04 2020-12-29 Apparent Labs, LLC Grid network gateway aggregation
WO2017115163A1 (en) * 2015-12-31 2017-07-06 Abb Schweiz Ag A method and an apparatus for communicating a condition of a power line

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005189012A (en) 2003-12-25 2005-07-14 Toshiba Corp Power measuring device
JP2006292448A (en) 2005-04-07 2006-10-26 Hioki Ee Corp Measuring system
JP2010175413A (en) 2009-01-30 2010-08-12 Hioki Ee Corp Measuring system
JP2013117484A (en) 2011-12-05 2013-06-13 Panasonic Corp Power measurement system
JP2013181813A (en) 2012-03-01 2013-09-12 Omron Corp Power consumption sensor, extension unit thereof, and power consumption measurement system
JP2014199209A (en) 2013-03-29 2014-10-23 パナソニック株式会社 Sensor unit, electric power measurement unit and electric power measurement system
JP2015152345A (en) 2014-02-12 2015-08-24 株式会社ダイヘン Measuring device, power system monitoring system, and measuring method

Also Published As

Publication number Publication date
EP3730951C0 (en) 2024-11-06
EP3730951B1 (en) 2024-11-06
EP3730951A1 (en) 2020-10-28
JP2020183874A (en) 2020-11-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7449522B2 (en) Measuring device, time information providing device, measuring device control method, time information providing control method, measuring device control program, and time information providing control program
US11721977B2 (en) Automatic discovery of electrical supply network topology and phase
GB2506135A (en) Branch circuit monitor with onboard processing
JP7360646B2 (en) Measuring device, measuring device control method, and measuring device control program
JP6563926B2 (en) Synchronous phasor data management system and method
CN110915169B (en) Bus connector for an automation system and method for monitoring a power supply network
WO2009109755A2 (en) A power measurement system, method and/or units
JPWO2014184957A1 (en) Information output system, home energy management system, information output method, and program
CN114731206A (en) Method, device and system for operating a device
WO2017183232A1 (en) Control device, control system, control method, and program
JP2014090564A (en) Power supply device and synchronous input device
CN115277498B (en) Timing method based on waveform parameters, related equipment, system and storage medium
Lu et al. Power grid frequency monitoring over mobile platforms
CN115882597A (en) Power grid topology identification method and device based on power-on sequence
CN115225244A (en) Low-voltage integrated reading electric energy meter clock time setting method, device, main equipment and medium
AU2021348264A1 (en) Methods, systems and devices for monitoring power consumption and generation
US20250096572A1 (en) Systems and methods for synchronising islanded power grids with a main power grid
CN114050656B (en) Sensing control terminal and monitoring point arrangement method of distributed energy power distribution network
Del Bimbo et al. Spatial arrangement of color flows for video retrieval
Vick Design of an inexpensive residential phasor measurement unit
KR20200083336A (en) Power Measuring System Using Network
KR20160119583A (en) Apparatus And Method For Generating Imaginary Signals For Synchroscope
JP2009060191A (en) Phase discriminating device and phase discriminating method
Qishen et al. Research on the Digital Dielectric Loss Measuring Technology Based on IEEE1588
Zhai et al. The Application of Advanced Clock Synchronization Technology in Intelligent Substation System

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20220323

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20230118

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20230124

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20230317

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20230606

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20230726

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20230829

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20230921

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7360646

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

OSZAR »